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第五章电气设备尽缘试验〔一〕
电气设备尽缘试验可分为两大类：
耐压试验〔破坏性试验〕：模拟设备尽缘在运行过程中可能受到的各种电压，对尽缘施加与之相等的或更为严格的电压，从而考研尽缘耐受这类电压的能力，称为耐压试验。对尽缘考察严格，但轻易造成不必要的尽缘损坏。
检查性试验〔非破坏性试验〕：测定尽缘某些方面的特性，并据此间接地判定尽缘的状况，称为检查性试验。这类试验一般在较低的电压下进行，通常可不能导致尽缘的击穿损坏。
由此可见，上述两类试验时互为补充，而不能相互代替的。因此，应先做检查性试验，据此再确定耐压试验的时刻和条件。
5-1测定尽缘电阻
尽缘电阻是反映尽缘性能的最全然的指标之一，通常都用兆欧表测量尽缘电阻。其工作原理图可参考图5-1-1。通常兆欧表的量程为500V、1000V、2500V、5000V等。
图5-1-1兆欧表原理电路图
如图5-1-2是用兆欧表测套管尽缘的接线图，兆欧表对外有三个接线端子，测量时，线路端子〔L〕接被试品的高压导体；接地端子〔E〕接被试品外壳或地；屏蔽端子〔G〕接被试品的屏蔽环或不的屏蔽电极。
图5-1-2用兆欧表测套管尽缘的接线图
如前所述，一般电介质都能够用图1-4-2所示的等效电路图来表示。图中，串联之路RP—CP代表电介质的汲取特性，如尽缘良好，那么最终Rlk和RP的值都特别大，稳定的尽缘电阻值也特别高。反之，尽缘受潮时，那么不仅最后稳定的电阻特别低，而且还会特别快到达稳定值。因此，也能够用尽缘电阻随时刻而变化的关系来反映尽缘的状况。通常用时刻为60s和15s时所测得的尽缘电阻值之比，称为汲取比K，即
K=R60/R15
如尽缘良好，那么此值应大于1.3~1.5。
关于某些容量较大的电气设备，其尽缘的极化和汲取的过程特别长，上述的汲取比K还不能充分反映尽缘汲取过程的整体。现在可增测极化指数P
P=R10min/R1min
如尽缘良好，那么此值应大于1.5~2.0。
测量尽缘电阻能够有效发现以下缺陷：
总体尽缘质量欠佳；
尽缘受潮；
两极间有贯穿性的导电通道；
尽缘外表情况不良。
测量尽缘电阻不能发现以下缺陷：
尽缘中的局部缺陷〔如非贯穿性的局部损伤、含有气泡等〕
尽缘的老化
测量尽缘电阻时应注重：〔1〕试验前将被试品接地放电一定时刻。
〔2〕高压测试连接线应尽量维持架空；
〔3〕测汲取比和极化指数时，应待电源电压到达稳定后再接进被试品。
〔4〕每次测试结束后，先断开L端子，防止反向放电。
〔5〕尽缘电阻与温度有显著的关系。尽缘温度升高时，尽缘电阻大致按指数率落低，汲取比和极化指数的值也会有所变化，因此，测量尽缘电阻时，应正确记录当时尽缘的温度。
5-2测定泄漏电流
本试验是将直流高压加到被试品上，测量流经被试品尽缘的泄漏电流。关于变压器的绕组泄漏电流试验所加电压值可参考表5-2-1。测量原理接线图如图5-2-1所示。但实际操作中，一般应用图5-2-2的接线图。
表5-2-1变压器绕组泄漏电流试验所加电压值
绕组额定电压〔kV〕
3
6~10
20~35
66~330
500
直流试验电压〔kV〕
5
10
20
40
60
与兆欧表相比，本试验具有以下特点：〔1〕所加直流电压较高，能揭示兆欧表不能发现的某些尽缘缺陷；
〔2〕所加直流电压时逐渐升高的，那么在升压过程中，从所测电流与电压关系的线性度能够指示尽缘情况。
〔3〕兆欧表刻度的非线性特别强，难以精确分辨，微安表的刻度那么全然上是线性的，能精确读取。
5-3测定介质损耗因数〔tgδ〕
介质损耗因数〔tgδ〕是表征尽缘在交变电压作用下比损耗大小的特征参数，它与尽缘体的外形和尺寸无关，它是尽缘性能的全然指标之一。
一、测试电路
测tgδ的方法有多种，如瓦特表法、电桥法、不平衡电桥法等，其中以电桥法的正确度最高，最通用的是西林电桥，如图5-3-2所示。
假设C4以μF计，那么在数值上，tgδx=C4。
碍事电桥正确度的因素有：
本试验高压电源对桥体杂散电容的碍事。如图5-3-3所示。
外界电场干扰。
外界磁场干扰。
为消除上述几种误差因素，最简单而有效的方法是将电桥的低压局部全部用接地的金属网屏蔽起来，如此就全然消除了这三种误差。
由图5-3-2可见，这种测试电路要求被试品两端均不接地，这在许多场合是做不到的。现在，可将电桥颠倒过来，令被试品的一端F点接地，D点和屏蔽网接高压电源，这种接线方式喊做反接线。
二、测试成效
〔1〕受潮；
〔2〕穿透性导电通道；
〔3〕尽缘内含气泡的电离，尽缘分层、脱壳；
〔4〕尽缘老化劣化，绕组上附着油泥；
〔5〕尽缘油脏污、劣化等。
对以下缺陷，tgδ法是特别少有效果的。
非穿透性的局部损坏；
特别小局部尽缘的老化劣化；
个不的尽缘弱点。
三、测试时应注重的事项
1．尽可能分部测试
2．tgδ与温度的关系
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