先进表征方法与技术 课件 3.3 X射线吸收精细结构谱（XAFS）.pptx

3.3X射线吸收精细结构谱（XAFS）

3X射线吸收精细结构谱（XAFS）在前面的章节中，我们探讨了如何通过分析X射线与物质的相互作用及其产生的衍射图样，依据布拉格定律来确定物质的晶体结构。然而，除了X射线衍射外，人们还可以利用物质对X射线的吸收来分析材料的微观结构和物理化学性质。这里，我们将介绍一种常用的表征手段，X射线吸收精细结构谱（XAFS）。XAFS是X射线吸收谱（XAS）的一种特殊形式，主要用于研究物质中选定元素在原子和分子尺度上的局部结构。XAFS不仅适用于晶体材料，还可以应用于缺乏长程有序结构的非晶态材料，包括玻璃、准晶体、无序薄膜、溶液、液体、金属蛋白和气态分子等。该特性