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2025年事业单位工勤技能-安徽-安徽无损探伤工二级（技师）历年参考题典型考点含答案解析

一、选择题

从给出的选项中选择正确答案（共50题）

1、在射线探伤中，影响底片清晰度的主要因素是：

A.射线能量过高；

B.增感屏厚度不当；

C.曝光时间过长；

D.胶片未紧贴工件

【参考答案】D

【解析】底片清晰度主要受几何不清晰度影响，其与射源尺寸、焦距及工件与胶片间距有关。胶片未紧贴工件会增大工件到胶片的距离（b值），导致几何模糊加剧，降低清晰度。增感屏厚度影响灵敏度，射线能量影响穿透力，曝光时间影响黑度，但均非清晰度主要因素。因此D正确。

2、超声波探伤中，用于调节检测灵敏度的标准试块是：

A.CSK-IA试块；

B.IIW试块；

C.TZS-R试块；

D.RB-3试块

【参考答案】A

【解析】CSK-IA试块是我国广泛使用的超声波探伤标准试块，用于校准仪器水平线性、垂直线性和调整探头K值、灵敏度等。IIW为国际通用试块，TZS-R用于轮轴探伤，RB-3用于远场分辨力测试。在常规检测中，CSK-IA为主要校准工具，故A正确。

3、磁粉探伤适用于检测下列哪种材料的表面缺陷？

A.奥氏体不锈钢；

B.铝合金；

C.低碳钢；

D.铜合金

【参考答案】C

【解析】磁粉探伤仅适用于铁磁性材料，如低碳钢、铸铁、镍、钴等。奥氏体不锈钢为非铁磁性，铝、铜及其合金也不具磁性，无法形成漏磁场吸附磁粉。因此，只有低碳钢能有效进行磁粉检测，C为正确答案。

4、在超声波探伤中，声束扩散角与下列哪项因素成反比？

A.波长；

B.晶片直径；

C.介质密度；

D.声速

【参考答案】B

【解析】声束扩散角θ≈70λ/D，其中λ为波长，D为晶片直径。扩散角与晶片直径成反比，直径越大，扩散角越小，方向性越好。波长与扩散角成正比，介质密度和声速通过影响波长间接作用，但非直接反比关系。因此B正确。

5、射线照相中，提高底片对比度的有效方法是：

A.增加管电压；

B.使用快速胶片；

C.降低射线能量；

D.增大焦距

【参考答案】C

【解析】底片对比度与射线能量负相关。降低射线能量可增强不同厚度区域对射线的吸收差异，提高影像对比度。提高管电压会增加穿透力但降低对比度；快速胶片灵敏度高但对比度低；增大焦距改善清晰度但不影响对比度。因此C正确。

6、渗透探伤中，后乳化型渗透剂必须配合使用的是：

A.自乳化剂；

B.乳化剂；

C.显像剂；

D.清洗剂

【参考答案】B

【解析】后乳化型渗透探伤工艺包括：渗透→乳化→清洗→显像→观察。乳化剂用于将表面多余渗透剂转化为可水洗状态，避免过度清洗缺陷内渗透剂。自乳化型无需额外乳化剂，而溶剂去除型使用清洗剂。因此，后乳化法必须使用乳化剂，B正确。

7、超声波探伤中，产生幻象波的主要原因是：

A.工件厚度过大；

B.仪器重复频率过高；

C.探头频率过高；

D.耦合不良

【参考答案】B

【解析】幻象波是由于仪器脉冲重复频率过高，前次回波未消失而下次发射脉冲已发出，造成回波在显示屏上多次重复出现。可通过降低重复频率消除。工件厚度影响回波间距，频率影响分辨力，耦合不良导致信号减弱，均不直接引发幻象波。故B正确。

8、射线照相中，表示图像质量的“像质指数”主要反映：

A.底片黑度；

B.几何不清晰度；

C.缺陷检出能力；

D.对比度

【参考答案】C

【解析】像质指数是通过像质计（如丝型）在底片上可识别的最细金属丝编号确定，用于量化图像的细节分辨能力，间接反映缺陷检出能力。黑度、对比度、清晰度是影响像质指数的因素，但像质指数本身是综合评定灵敏度的指标。因此C正确。

9、在磁粉探伤中，采用连续法优于剩磁法的情形是：

A.工件形状复杂；

B.材料高矫顽力；

C.需要检测内部缺陷；

D.批量检测

【参考答案】A

【解析】连续法在施加磁化电流的同时喷洒磁粉，适用于形状复杂、易退磁或低矫顽力材料，能有效检测表面及近表面缺陷。剩磁法适用于高矫顽力材料且需断电后检测。连续法灵敏度更高，适合复杂工件，故A正确。剩磁法更适合批量检测，但非“优于”的情形。

10、超声波探伤中，调节DAC曲线的目的是：

A.校准探头角度；

B.补偿不同深度缺陷的信号衰减；

C.测定材料声速；

D.调整脉冲宽度

【参考答案】B

【解析】DAC（距离-波幅-曲线）用于补偿超声波在传播过程中因扩散、衰减等因素导致的信号随深度减弱现象，使不同深度的相同当量缺陷回波高度一致，便于定量比较。DAC曲线通过试块上不同深度平底孔反射波绘制而成，B正确。

11、下列哪种缺陷在射线照相中最易识别？

A.气孔；

B.未焊透；

C.夹渣；

D.裂纹

【参考答案】B

【解析】未焊透在焊缝根部呈连续直线状黑线，轮廓清晰、方向明确，与射