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基础实验部分
实验一集成逻辑门电路逻辑功能的测试
一、实验目的
1、熟悉数字逻辑实验箱的结构、基本功能和使用方法。
2、掌握常用非门、与非门、或非门、与或非门、异或门的逻辑功能及其测试方法。
二、实验仪器及设备
1、数字逻辑实验箱1台
2、元器件：74LS0074LS0474LS5574LS86各一块
导线若干
三、实验内容
1、测试74LS04（六非门）的逻辑功能
将74LS04正确接入面包板，注意识别1脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则
左下角为1脚）重点讲解，按表1-1要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑
电平。得表达式为YA
表1-174LS04逻辑功能测试表
1A1Y2A2Y3A3Y4A4Y5A5Y6A6Y
010101010101
101010101010
2、测试74LS00（四2输入端与非门）逻辑功能
将74LS00正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-2要求输入高、低电平信号，测出相应的
输出逻辑电平。得表达式为YA•B
表1-274LS00逻辑功能测试表
1A1B1Y2A2B2Y3A3B3Y4A4B4Y
001001001001
011011011011
101101101101
110110110110
3、测试74LS55（二路四输入与或非门）逻辑功能
将74LS55正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-3要求输入信号，测出相应的
输出逻辑电平，填入表中。（表中仅列出供抽验逻辑功能用的部分数据）
表1-374LS55部分逻辑功能测试表
ABCDEFGHY
000000001
000000011
000000101
000000111
000001001
000001011
000001101
000001111
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