芯片测试工程师面试模拟考试题.docxVIP

第PAGE页共NUMPAGES页

芯片测试工程师面试模拟考试题

一、选择题（每题2分，共20题）

1.在芯片测试中，以下哪项是边界扫描测试的主要应用场景？

A.功能验证

B.可靠性测试

C.时序测试

D.功耗测试

2.ATE（自动测试设备）的核心优势在于？

A.降低人工成本

B.提高测试效率

C.增强测试精度

D.以上都是

3.在数字芯片测试中，伪随机序列（PRBS）主要用于？

A.测试存储器

B.测试信号完整性

C.测试时序裕量

D.测试功耗

4.DFT（可测性设计）的主要目的是？

A.提高芯片性能

B.降低测试成本

C.增强芯片可靠性

D.以上都是

5.在模拟芯片测试中，直流偏置测试的主要目的是？

A.验证静态工作点

B.测试动态响应

C.测试噪声性能

D.测试电源抑制比

6.BERT（误码率测试仪）在芯片测试中主要应用于？

A.数字通信芯片

B.模拟信号芯片

C.微控制器

D.以上都是

7.温度循环测试属于哪种测试类型？

A.功能测试

B.环境应力测试

C.功耗测试

D.时序测试

8.在ATE编程中，以下哪项是烧录程序的常见工具？

A.串口调试器

B.逻辑分析仪

C.编程器

D.示波器

9.覆盖率（Coverage）在芯片测试中的含义是？

A.测试用例的多少

B.测试结果的可信度

C.测试代码的执行比例

D.测试资源的利用率

10.在FPGA测试中，以下哪项是JTAG测试的主要优势？

A.高速测试

B.低成本

C.全面测试能力

D.以上都是

二、填空题（每空1分，共10空）

1.芯片测试中，ATE的全称是__________。

2.DFT设计的主要目标是提高__________。

3.在数字测试中，PRBS的典型码长为__________。

4.BERT测试的目的是测量__________。

5.温度循环测试的目的是验证芯片在__________环境下的稳定性。

6.覆盖率通常分为__________和__________两种类型。

7.边界扫描测试基于__________协议。

8.直流偏置测试主要关注芯片的__________性能。

9.功耗测试中，IDD表示__________。

10.FPGA测试中，边界扫描主要用于__________。

三、简答题（每题5分，共5题）

1.简述ATE的主要组成部分及其功能。

2.解释DFT设计中的扫描链（ScanChain）的作用。

3.描述数字芯片测试中伪随机序列（PRBS）的生成原理及其优势。

4.说明模拟芯片测试与数字芯片测试的主要区别。

5.如何评估芯片测试的覆盖率？

四、论述题（每题10分，共2题）

1.详细阐述温度循环测试在芯片可靠性评估中的重要性，并举例说明其应用场景。

2.结合实际案例，分析FPGA测试中边界扫描测试的优势与局限性。

五、编程题（每题10分，共2题）

1.编写一段Verilog代码，实现一个8位CRC校验模块，并说明其工作原理。

2.编写一段Python脚本，用于生成PRBS序列，并计算其码长。

答案与解析

一、选择题

1.D

-边界扫描测试主要用于芯片的物理接口测试，不属于功能或可靠性测试范畴。

2.D

-ATE通过自动化测试提高效率、降低人工成本，并保证测试精度。

3.A

-PRBS主要用于测试存储器的数据传输能力，确保数据路径的完整性。

4.D

-DFT设计的目标是提高测试效率、降低成本并增强可靠性。

5.A

-直流偏置测试主要验证芯片的静态工作点是否满足设计要求。

6.A

-BERT主要用于数字通信芯片的误码率测试。

7.B

-温度循环测试属于环境应力测试，验证芯片在不同温度下的稳定性。

8.C

-编程器是ATE中用于烧录芯片的常用工具。

9.C

-覆盖率指测试代码的执行比例，反映测试的全面性。

10.C

-JTAG测试可覆盖FPGA的内部逻辑，具备全面测试能力。

二、填空题

1.自动测试设备（AutomatedTestEquipment）

2.可测试性

3.2^20-1

4.误码率

5.高低温

6.功能覆盖、代码覆盖

7.JTAG

8.静态

9.静态电流

10.FPGA的边界逻辑测试

三、简答题

1.ATE的主要组成部分及其功能

-硬件部分：包括电源、测试头、控制单元、数据采集系统等。

-软件部分：包括测试程序、固件、数据分析工具等。

-功能：自动化执行测试、数据采集与分析、故障诊断等。

2.扫描链的作用

-扫描链是DFT设计中的关键结构，通过串行方式测试内部逻辑，降低测试引脚需求。

3.PRBS的生成原