基于IPS显示器静电Mura现象研究.pdfVIP

52.1：针对IPS液晶显示器的静电Mura研究

镐*,,,,,移动小型开发部，LG显示，韩国龟尾市

,,,龟尾分析技术团队，LG显示，韩国龟尾市

2.实验

防止静电损坏，通常会在基于IPS的液晶显示器的CF基所有评估均使用2.4英寸IPS面板，该面板在量产线上制造。

板背面沉积ITO薄层。但在相对高温的潮湿环境中存放时，某以下参数被选用于分析：

些IPS面板的偏光片测试显示其保护能力有所丧失，而面板本

I.ITO–层厚度、沉积温度、气体流量、沉积功率

身并未表现出显著变化。我们明确了根本并找到了质量

控制因素。

II.偏光片用胶粘剂–酸成分含量、交联度

1.引言本使用的分析工具包括：用于测量电阻的万用表，用

IPS液晶模式的一个独特特性是其在顶部（彩色滤光片：CF）于形态观察的光学显微镜和扫描电子显微镜，用于晶格结构

基板上不需要电极层。正因如此，IPS液晶显示器容易受到静鉴定的X射线衍射和X射线反射率。此外，静电放电（ESD）

能力是根据后侧ITO的表面电阻进行比较的。

电冲击的影响，因此通常在CF基板的背面设置ITO层以弥补

这一。当允许背面ITO层的厚度大于约400Å时，这种设

偏光片测试使用穿孔的偏光片进行，以避免偏光片的脱

计没有问题，显示器也足够稳定。

层过程，该过程可能会导致后侧ITO的机械损伤，与分析参

然而，随着对更薄显示器和更高透光率的需求不断增加，特数无关。本文中显示的电阻是四点“角落到”线性电阻

别是对于中小型手持设备显示屏，对更薄ITO层的要求也随之的平均值，除非另有说明。

增加。根据显示规格的不同，背面ITO层的厚度通常被设计在

o

150~300Å的范围内。随着这一趋势的发展，静电损伤的风可靠性测试的试验箱设置为60C和90%相对湿度。

险再次成为制造商在质量控制方面关注的问题之一。

3.结果

通常，显示器的可靠性测试包括在高温高湿度环境下的和/3.1.电阻

或操作稳定性评估。本研究中的液晶显示器同样无法避免进行此测量了裸电池（即未贴偏光片的电池）的电阻，其取决于

类可靠性测试。虽然并不常见但也并非罕见的是，当液晶显示模ITO厚度及其沉积条件。在图1中，蓝线表示将电池放入可靠

块在测试舱中放置较长时间后，某些测试样品的背面ITO层电阻性试验箱之前的电阻，红线表示在试验箱中保持24小时

被发现有所增加。然而，这种现象仅出现在偏光片测试中，而在

的电阻。首先，在所有实验条件下均未观察到显著变化，这

裸LC单元中并未观察到明显变化。此外，对于具有相同背面

意味着即使在预计最不稳定的最薄ITO厚度条件下，ITO本身

ITO层厚度的单元，一种类型的偏光片测试容易受到静电冲击的

似乎未受到湿气的影响。尽管所有条件都适用于量产，但建

影响，而另一种则相当稳定。这是一个非常奇怪的结果，使我们