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工程光学性能测试及应用实例解析

一、单选题（每题2分，共20题）

1.在工程光学性能测试中，以下哪项不属于常用光学参数？（）

A.分辨率

B.透过率

C.放大倍数

D.相位延迟

答案：C

解析：分辨率、透过率和相位延迟是光学系统性能的关键参数，而放大倍数属于成像系统的结构参数，而非光学性能参数。

2.测试光学镜头的MTF（调制传递函数）时，通常使用哪种光源？（）

A.白炽灯

B.激光器

C.LED光源

D.单色光栅

答案：D

解析：MTF测试需要高稳定性和单色性的光源，单色光栅能提供精确的测试条件。

3.光学元件的透过率测试中，哪种测量方法适用于高反射率表面？（）

A.透射法

B.反射法

C.双光束干涉法

D.零级法

答案：C

解析：高反射率表面会干扰透射法测量，双光束干涉法能有效避免反射干扰。

4.在光学系统成像质量测试中，以下哪个指标最能反映系统的畸变？（）

A.分辨率

B.色差

C.畸变

D.波前差

答案：C

解析：畸变直接衡量图像边缘的变形程度，是光学系统成像质量的重要评价标准。

5.测试光纤跳线的弯曲损耗时，标准弯曲半径通常是多少微米？（）

A.10

B.30

C.50

D.100

答案：B

解析：光纤弯曲损耗测试标准通常采用30μm弯曲半径，模拟实际使用环境。

6.光学薄膜的反射率测试中，以下哪种仪器精度最高？（）

A.光功率计

B.光谱仪

C.反射计

D.透射计

答案：B

解析：光谱仪能精确测量各波长反射率，适用于薄膜多层结构测试。

7.测试望远镜的视场角时，通常采用哪种方法？（）

A.角度测量仪

B.光纤探头

C.全息干涉仪

D.瞬态光栅

答案：A

解析：视场角属于几何光学参数，角度测量仪是标准测试工具。

8.光学系统杂散光测试中，以下哪种方法能有效抑制环境光干扰？（）

A.黑体辐射法

B.暗场法

C.漫射法

D.相位补偿法

答案：B

解析：暗场法通过特殊布置消除环境光，适用于杂散光测试。

9.测试半导体激光器线宽时，常用哪种技术？（）

A.光谱干涉法

B.光电倍增管法

C.声光调制法

D.滤波器扫描法

答案：C

解析：声光调制技术能精确测量激光器相位噪声，从而计算线宽。

10.光学镜头的色差测试中，哪种光源最适用？（）

A.白炽灯

B.氦氖激光器

C.D65标准光源

D.氙灯

答案：C

解析：D65标准光源模拟自然光，适用于色差测试的色品坐标测量。

二、多选题（每题3分，共10题）

11.光学系统成像质量测试中，以下哪些参数属于评价标准？（）

A.分辨率

B.色差

C.畸变

D.波前差

E.透过率

答案：A、B、C、D

解析：成像质量评价包括分辨率、色差、畸变和波前差，透过率属于光学材料参数。

12.光纤熔接损耗测试中，以下哪些因素会影响测量精度？（）

A.熔接点温度

B.光纤弯曲半径

C.熔接机稳定性

D.测试波长

E.环境湿度

答案：A、B、C、D、E

解析：所有因素都会影响熔接损耗的准确测量，需严格控制测试条件。

13.光学薄膜的反射率测试中，以下哪些方法适用于多层结构？（）

A.朗伯模型

B.多层光学计算

C.逐层测量法

D.光谱仪扫描

E.反射计测量

答案：B、C、D

解析：朗伯模型适用于单层膜，多层结构需复杂算法和光谱仪测量。

14.测试显微镜的数值孔径时，以下哪些参数需要测量？（）

A.物镜焦距

B.光学系统孔径

C.光线入射角

D.物镜直径

E.照明光源强度

答案：B、C、D

解析：数值孔径计算需孔径参数和光线入射角，与照明光源强度无关。

15.光学系统杂散光测试中，以下哪些因素会导致测试误差？（）

A.测试环境光

B.仪器光谱响应

C.光线散射角度

D.探测器灵敏度

E.系统透射率

答案：A、B、C、D

解析：杂散光测试受环境光、仪器响应、散射角度和探测器灵敏度影响，透射率影响较小。

16.测试半导体激光器相干性时，以下哪些方法适用？（）

A.杨氏双缝干涉

B.光谱线宽测量

C.自相关函数法

D.偏振态分析

E.光功率计测量

答案：A、B、C

解析：相干性测试通过干涉和光谱分析，光功率计仅测量强度。

17.光学镜头的畸变测试中，以下哪些因素会影响结果？（）

A.物距

B.像距

C.焦距

D.光圈大小

E.环境温度

答案：A、B、C

解析：畸变与光学系统参数直接相关，与光圈大小和环境温度无关。

18.光纤跳线弯曲损耗测试中，以下哪些弯曲方式需要测试？（）

A.直线弯曲

B.直角弯曲

C.弧形弯曲

D.螺旋弯曲

E.随机弯