深度解析(2026)《YST 678-2024 半导体封装用键合铜丝》.pptxVIP

深度解析(2026)《YST 678-2024 半导体封装用键合铜丝》.pptx

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;目录;;半导体封装材料国产化迫切性:键合铜丝的替代价值何在?;(二)标准制定的行业驱动因素:哪些痛点催生新规落地?;;

二范围与规范性引用文件深度剖析:哪些应用场景被覆盖?新旧标准引用衔接有何关键要点?;本标准适用于半导体封装用直径小于0.1mm的圆形截面铜丝,涵盖Cu99.99与Cu99两个牌号,适配0.018mm至0.050mm等10种规格,同时允许供需双方协商定制特殊规格,覆盖主流封装场景需求。;;;;;(二)产品分类逻辑:牌号与规格划分的依据是什么?;(三)产品标记规则实操指南:如何通过标记快速识别产品信息?;;Cu99.99牌号铜含量≥99.99%,杂质总和≤0.01%;Cu99牌号铜含量99%~99.99%,杂质总和≤1.0%。重点限制AgFePb等有害杂质,避免其影响导电性能与键合可靠性。;(二)高纯度铜丝制备技术路径:如何满足严苛成分要求?;(三)杂质控制的关键意义:对封装可靠性有哪些直接影响?;;直径及允许偏差要求:不同规格的精度控制标准是什么?;(二)机械性能核心指标:拉断力与伸长率标准的制定依据?;(三)指标与微型化封装趋势的适配性:如何支撑高密度封装需求?;;表面质量核心要求:哪些缺陷被严格禁止?;(二)表面质量检测方法与实操要点:如何精准识别微小缺陷?;(三)卷曲与轴向扭曲控制:为何成为键合工艺关键保障?;;;;;;;;(三)贮存条件与期限:长期贮存的核心注意事项?;;生产企业达标痛点:哪些环节易出现不合格?;;;;未来将向超细径(0.018mm)高纯度(99.999%)镀层改性(如镀钯)方向发展,同时提升抗氧化性与耐腐蚀性,适配3D封装Chiplet等高端工艺需求,成本将进一步降低。;;(三)标准未来升级方向:如何适配行业发展新需求?

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