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多维视角下的模拟电路测点优选与测试生成技术研究

一、引言

在当今科技飞速发展的时代，电子产品的集成度与复杂度呈现出迅猛的上升趋势。模拟电路作为电子产品的核心功能单元，广泛应用于通信、控制、信息技术、混合信号电路和片上系统等众多领域，其性能的可靠性和稳定性对于整个电子系统的正常运行起着决定性作用。然而，随着模拟电路规模的不断扩大和内部不可及节点的日益增多，电路内部节点的可控性和可观性变差，使得模拟电路的测试面临着巨大的挑战。可靠的电路测试成为实现高质量模拟电路设计的必要步骤，而其中测量点的优选及测试生成的方法则是至关重要的环节。

测点优选旨在从众多可能的测试点中挑选出最优的子集，以最小的测试成本实现故障信息的最大化提取。这不仅能够提高测试效率，减少测试时间和成本，还能增强故障诊断的准确性和可靠性。通过合理选择测点，可以更有效地监测电路的运行状态，及时发现潜在的故障隐患，为电路的维护和修复提供有力支持。

测试生成则致力于构建高效的激励-响应验证体系，通过精心设计测试激励信号，获取电路的响应信息，进而验证电路设计是否符合预期要求。一个完善的测试生成方法能够全面覆盖各种可能的电路故障模式，确保电路在各种工作条件下的性能和功能都能得到充分验证。

本文将从方法分类、技术创新、工程应用等多个维度，系统地梳理模拟电路测试技术的研究脉络与前沿动态。通过对不同测点优选和测试生成方法的深入分析和比较，揭示其优缺点和适用范围，为相关领域的研究人员和工程师提供有价值的参考，推动模拟电路测试技术的进一步发展和应用。

二、模拟电路测点优选方法体系

（一）传统测点优选方法

1.覆盖率导向优化法

覆盖率导向优化法旨在以最小化测试点集合来覆盖电路关键节点。在实际应用中，对于一个具有复杂结构的模拟电路，如包含多个功能模块和众多节点的通信电路，可将其抽象为图论中的图结构，其中节点代表电路中的关键节点，边代表节点之间的连接关系。通过运用图论中的最小顶点覆盖模型，从所有可能的测试点中挑选出最小的测试点集合，使得该集合中的测试点能够覆盖图中的所有节点。例如，对于一个包含100个节点的电路，经过覆盖率导向优化法处理后，可能只需选择20个测试点就能实现对所有节点的覆盖，这显著降低了测试复杂度。然而，该方法存在一定局限性，它过度依赖节点覆盖度，在实际电路中，不同节点对故障的敏感程度存在差异，某些节点可能对特定故障模式更为敏感，而该方法可能忽略这些故障敏感点的差异化诊断价值。尽管如此，对于结构清晰、标准化程度高的电路，如一些常见的数字-模拟转换电路，覆盖率导向优化法仍能发挥其优势，有效地减少测试成本和时间。

2.故障定位驱动优化法

故障定位驱动优化法聚焦于高频故障模式，通过建立故障字典或利用贝叶斯网络来筛选对目标故障辨识度高的测点。以一个常见的运算放大器电路为例，该电路在长期运行过程中，可能会出现电阻值漂移、电容漏电等高频故障模式。首先，通过对电路进行故障模拟分析，建立故障-测点响应映射矩阵，该矩阵记录了不同故障模式下各个测点的响应特征。例如，当电阻值漂移时，在特定测点处的电压值会发生相应变化，将这些变化特征记录在矩阵中。然后，根据这个矩阵，优先选择那些能有效区分典型故障的测试点。假设在上述运算放大器电路中，通过分析发现有5个测试点对常见的3种故障模式具有较高的辨识度，那么在实际测试中，就可以重点关注这5个测试点，从而大大提升故障诊断的效率。但该方法也存在明显的缺点，由于它主要针对预设的高频故障模式进行测点选择，对于那些未被预设的故障，可能会出现漏检的风险。如果在电路运行过程中出现了一种新的、罕见的故障模式，由于该故障模式未被纳入故障字典或贝叶斯网络的分析范围，那么基于该方法选择的测点可能无法检测到这种故障。

（二）智能算法改进方法

1.基于遗传算法的多目标优化

基于遗传算法的多目标优化方法在模拟电路测点优选中具有独特的优势。在高频模拟电路的故障诊断场景下，如射频电路，该方法融合锯齿波激励下的多频响应数据，将测点组合视为遗传个体。具体来说，首先随机生成一组初始测点组合，每个组合都包含一定数量的测试点，这些组合构成了遗传算法中的种群。然后，定义适应度函数，该函数以分类准确率为核心指标，用于评估每个个体（测点组合）的优劣。在每次迭代中，通过选择、交叉和变异等遗传操作，对种群进行更新。选择操作基于个体的适应度，使适应度高的个体有更大的概率遗传到下一代；交叉操作模拟生物遗传中的染色体交叉，将两个父代个体的测点组合进行部分交换，生成新的子代个体；变异操作则以一定的概率随机改变个体中的某些测试点，以增加种群的多样性。通过不断迭代，种群逐渐向适应度更高的方向进化，最终通过交叉验证筛选出最优测点集。这种方法有效解决了传统方法在多故障场景下适应性不足的问题，能