无损检测(超声)技师(高级)考试试卷及答案.docVIP

无损检测(超声)技师(高级)考试试卷及答案.doc

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无损检测(超声)技师(高级)考试试卷及答案

第一部分填空题(共10题,每题1分)

1.超声检测中产生和接收超声波的核心器件是______。(答案:探头)

2.超声纵波在钢材中的典型声速约为______m/s。(答案:5900)

3.消除超声检测近场干扰的曲线称为______曲线。(答案:DAC)

4.超声检测近表面无法检测的区域称为______。(答案:盲区)

5.横波探头K值定义为______。(答案:折射角的正切值)

6.耦合剂的主要作用是透声和______。(答案:润滑)

7.ⅡW试块主要用于调整扫描速度和______。(答案:灵敏度)

8.缺陷反射波幅与缺陷______(有效反射面积)密切相关。(答案:有效反射面积)

9.超声分辨力分为水平分辨力和______分辨力。(答案:垂直)

10.纵波缺陷深度定位公式为______(y=ct/2,c为声速,t为传播时间)。(答案:y=ct/2)

第二部分单项选择题(共10题,每题2分)

1.适用于检测近表面缺陷的探头是:

A.高频小晶片B.低频大晶片C.高频大晶片D.低频小晶片

(答案:A)

2.超声横波不能在______中传播:

A.固体B.液体C.气体D.所有介质

(答案:C)

3.DAC曲线制作基于:

A.不同深度同尺寸反射体B.同一深度不同尺寸反射体

C.不同深度不同尺寸反射体D.以上都不是

(答案:A)

4.K值为2时,横波折射角约为:

A.63.4°B.45°C.30°D.75°

(答案:A)

5.超声衰减的主要原因不包括:

A.扩散衰减B.吸收衰减C.散射衰减D.反射衰减

(答案:D)

6.属于对比试块的是:

A.ⅡW试块B.CSK-ⅢA试块C.RB-1试块D.以上都是

(答案:B)

7.超声近场区的特点是:

A.声压均匀B.声压波动大C.声压线性增加D.声压线性减小

(答案:B)

8.横波水平定位公式x=______(θ为折射角):

A.ctB.ct/2C.ctsinθD.ctcosθ

(答案:C)

9.降低超声检测灵敏度的情况是:

A.耦合剂厚度增加B.探头频率提高C.晶片尺寸增大D.增益提高

(答案:A)

10.频率与分辨力的关系是:

A.频率越高,分辨力越好B.频率越低,分辨力越好

C.无直接关系D.频率适中最好

(答案:A)

第三部分多项选择题(共10题,每题2分,多选/少选/错选不得分)

1.影响缺陷检出的因素包括:

A.耦合效果B.探头频率C.缺陷取向D.灵敏度调整E.试块类型

(答案:ABCD)

2.纵波探头应用场合:

A.板材检测B.焊缝检测C.锻件检测D.铸件检测E.表面缺陷检测

(答案:ACD)

3.耦合剂选择要求:

A.透声性好B.粘度适中C.无腐蚀性D.价格低廉E.颜色鲜艳

(答案:ABC)

4.标准试块作用:

A.调整扫描速度B.调整灵敏度C.校准探头角度D.检测仪器性能E.对比缺陷大小

(答案:ABCD)

5.超声检测优点:

A.检测厚度大B.定位准确C.速度快D.对人体无害E.可检测所有缺陷

(答案:ABCD)

6.缺陷定位方法:

A.水平定位B.垂直定位C.深度定位D.声程定位E.面积定位

(答案:ABCD)

7.超声衰减来源:

A.扩散衰减B.吸收衰减C.散射衰减D.反射衰减E.折射衰减

(答案:ABC)

8.横波探头组成:

A.压电晶片B.斜楔C.保护膜D.吸收块E.电缆

(答案:ABCDE)

9.盲区影响因素:

A.探头频率B.晶片尺寸C.耦合剂D.仪器增益E.缺陷大小

(答案:AB)

10.DAC曲线作用:

A.反映距离-波幅关系B.调整灵敏度C.缺陷定量参考D.消除近场干扰E.检测缺陷取向

(答案:ACD)

第四部分判断题(共10题,每题2分,√/×)

1.超声纵波可在气体中传播。(√)

2.探头K值=折射角正弦值。(×)

3.耦合剂仅起润滑作用。(×)

4.盲区越小,近表面缺陷检出率越高。(√)

5.DAC曲线基于不同深度同尺寸反射体制作。(√)

6.频率越高,穿透能力越强。(×)

7.缺陷尺寸越大,反射波幅一定越高。(×)

8.ⅡW试块可校准横波折射角。(√)

9.超声可检测内部和表面缺陷。(√)

10.横波折射角指纵波折射角。(×)

第五部分简答题(共4题,每题5分)

1.简述耦合剂的作用及选择原则。

答案:作用:填充探头与工件间隙,减少空气反射,提高透声;润滑减少探头磨损。选择原则:①透声性好(声阻抗匹配);②粘度适中(不流淌、易涂抹);③无腐蚀性(不损工件/探头);④易清洗;⑤对人体无害。

2.简述DAC曲线制作步骤。

答案:①选匹配对比试块(如CSK-ⅢA);②设仪器参数(增益、重复频率);③扫查试块不同深度同尺寸反射体(如Φ2mm横孔);④记录深度和波幅;⑤连接波幅点成DAC曲线;⑥设DAC基准线(如-10

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