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2025最新无损检测员重点梳理考试题及答案

一、单项选择题(每题2分,共20题)

1.超声检测中,若探头K值为2.0,检测板厚为20mm的对接焊缝,一次波扫查时,声束在焊缝中的水平覆盖距离为()。

A.20mmB.40mmC.60mmD.80mm

答案:B(水平距离=板厚×K值=20×2=40mm)

2.射线检测中,使用Ir-192源对厚度25mm的钢焊缝透照,若焦距为600mm,几何不清晰度Ug的计算公式为()。

A.Ug=f×d/(F-f)B.Ug=d×(F-f)/fC.Ug=d×f/(F-f)D.Ug=d×(F-f)/F

答案:A(几何不清晰度公式:Ug=d×b/a,其中a为焦点到工件表面距离=F-f,b为工件表面到胶片距离=f,故Ug=d×f/(F-f))

3.磁粉检测时,对于表面有涂层的工件,若涂层厚度超过(),需去除涂层后检测。

A.0.05mmB.0.1mmC.0.2mmD.0.5mm

答案:C(依据JB/T4730-2023,涂层厚度>0.2mm时需去除)

4.渗透检测中,显像时间应控制在()。

A.5-10minB.10-30minC.30-60minD.60min以上

答案:B(渗透检测标准要求显像时间一般为10-30min,确保缺陷显示充分)

5.涡流检测中,检测线圈的阻抗变化主要由()引起。

A.工件电导率B.工件磁导率C.工件形状D.以上均是

答案:D(涡流检测中,电导率、磁导率、形状、缺陷等均会影响线圈阻抗)

6.超声检测用试块CSK-ⅢA的主要用途是()。

A.校准仪器水平线性B.测定探头分辨率C.绘制距离-波幅曲线(DAC)D.校准仪器垂直线性

答案:C(CSK-ⅢA试块用于制作DAC曲线,进行缺陷定量)

7.射线检测时,若底片黑度范围为2.5-4.0,应使用()进行观察。

A.普通观片灯B.高亮度观片灯(≥10万cd/m2)C.放大镜D.黑度计

答案:B(黑度>2.5时需使用高亮度观片灯,确保观察清晰度)

8.磁粉检测中,周向磁化用于检测()缺陷。

A.平行于工件轴线B.垂直于工件轴线C.表面点状D.内部埋藏

答案:B(周向磁化产生环形磁场,检测垂直于轴线的横向缺陷)

9.渗透检测的基本步骤顺序为()。

A.预清洗→渗透→清洗→显像→观察B.渗透→预清洗→清洗→显像→观察

C.预清洗→渗透→显像→清洗→观察D.渗透→清洗→预清洗→显像→观察

答案:A(正确流程:预清洗去除表面污染→渗透液渗透→清洗多余渗透液→显像剂吸附→观察缺陷显示)

10.超声检测中,当缺陷回波高度位于DAC曲线的-6dB区时,缺陷当量()。

A.小于基准当量B.等于基准当量C.大于基准当量D.无法判断

答案:A(DAC曲线-6dB表示回波幅度为基准波高的50%,当量小于基准)

11.射线检测的像质计灵敏度为2-1T,其中“1T”表示()。

A.像质计丝径为工件厚度的1%B.像质计丝径为1mm

C.像质计丝径为工件厚度的1/100D.像质计丝径为1T型

答案:A(2-1T中,“2”为像质指数,“1T”表示丝径为工件厚度的1%)

12.磁粉检测中,交流磁化的优点是()。

A.检测深度大B.退磁容易C.适用于厚工件D.对表面缺陷灵敏度低

答案:B(交流磁化产生趋肤效应,表面灵敏度高,退磁容易,适用于表面近表面缺陷)

13.涡流检测时,若要提高对表面缺陷的灵敏度,应选择()。

A.低频探头B.高频探头C.中频探头D.任意频率

答案:B(高频涡流渗透深度小,对表面缺陷更敏感)

14.超声检测中,横波探头的楔块材料声速应()工件声速。

A.大于B.小于C.等于D.无关

答案:B(横波探头通过折射产生横波,楔块声速需小于工件横波声速,才能形成第二临界角)

15.射线检测的防护三原则不包括()。

A.时间防护B.距离防护C.屏蔽防护D.剂量防护

答案:D(防护三原则为时间、距离、屏蔽,剂量是控制目标而非原则)

16.磁粉检测中,剩磁法适用于()材料。

A.低剩磁、低矫顽力B.高剩磁、高矫顽力C.非磁性D.奥氏体不锈钢

答案:B(剩磁法需工件保留足够剩磁,适用于高剩磁、高矫顽力材料如高碳钢)

17.渗透检测中,若使用水基显像剂,应采用()方法施加。

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