基于烧结工艺优化的LLZO固态电解质片界面阻抗控制性能研究论文.docx

基于烧结工艺优化的LLZO固态电解质片界面阻抗控制性能研究论文

摘要：本文针对LLZO固态电解质片在烧结工艺中的界面阻抗控制性能进行研究，通过优化烧结工艺，探讨LLZO固态电解质片界面阻抗的控制策略。文章首先阐述了烧结工艺优化和界面阻抗控制的概念，然后分析了烧结工艺优化对LLZO固态电解质片界面阻抗的影响，旨在为我国固态电解质材料的研究与开发提供理论支持。

关键词：烧结工艺；LLZO固态电解质；界面阻抗；控制性能

一、概念阐述

（一）1.烧结工艺优化的概念

烧结工艺优化是指在制备LLZO固态电解质片过程中，通过对烧结过程的温度、压力、保温时间等参数进行合理调整，以提高材料的致密性、降低缺陷密度