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磁粉检测考试及答案

磁粉检测考试试题及答案

一、单项选择题（每题2分，共20题，40分）

1.磁粉检测中，漏磁场的产生条件不包括以下哪项？

A.材料为铁磁性材料

B.缺陷位于材料内部深层（6mm）

C.缺陷处磁导率远低于基体

D.材料被外加磁场磁化

答案：B

解析：漏磁场主要产生于铁磁性材料表面或近表面（通常深度≤3mm）的缺陷，当缺陷深度超过6mm时，漏磁场强度会因集肤效应或磁场衰减而无法有效吸附磁粉。

2.以下哪种磁化方法属于周向磁化？

A.线圈法

B.磁轭法

C.直接通电法

D.交叉磁轭法

答案：C

解析：周向磁化通过电流沿工件轴向流动，在工件圆周方向产生闭合磁场，直接通电法（如夹头通电）是典型的周向磁化；线圈法、磁轭法产生纵向磁场，交叉磁轭法产生旋转磁场。

3.荧光磁粉检测中，观察磁痕的光源应满足：

A.可见光强度＞1000lx

B.紫外线强度（365nm）≥1000μW/cm2

C.白光背景亮度≤20lx

D.紫外线波长范围400-500nm

答案：B

解析：荧光磁粉需在暗室中用紫外线（主波长365nm）激发，要求紫外线强度≥1000μW/cm2，同时环境白光亮度≤20lx，避免干扰荧光显示。

4.下列哪种电流类型最适合检测表面微小裂纹？

A.直流

B.交流电

C.半波整流电

D.全波整流电

答案：B

解析：交流电具有集肤效应，电流集中在工件表面（深度约0.5-2mm），适合检测表面微小缺陷；直流或整流电磁场渗透深度大，适合近表面缺陷（深度3-6mm）。

5.灵敏度试片A1-30/100的含义是：

A.试片厚度30μm，人工槽深度100μm

B.试片厚度100μm，人工槽深度30μm

C.试片编号A1，人工槽宽30μm、深100μm

D.试片编号A1，人工槽深30μm、宽100μm

答案：B

解析：A1型试片的标识“30/100”中，分子为人工槽深度（30μm），分母为试片厚度（100μm），用于验证检测工艺的灵敏度。

6.退磁的主要目的是：

A.消除工件表面剩磁，避免吸附铁屑影响后续加工

B.提高工件的磁导率

C.增强下次检测时的磁化效果

D.减少检测设备的能耗

答案：A

解析：退磁可消除工件内部或表面的剩磁，防止后续加工（如机加工、焊接）中吸附铁屑或影响精密仪器（如传感器）的正常工作。

7.确定磁化规范时，不需要考虑的因素是：

A.工件材料的磁导率

B.缺陷的预期深度

C.工件的尺寸（如直径、厚度）

D.检测人员的操作习惯

答案：D

解析：磁化规范需根据材料磁导率（影响磁场分布）、缺陷深度（决定所需磁场强度）、工件尺寸（如直径影响周向磁化电流公式I=KD中的K值）确定，与检测人员习惯无关。

8.以下哪种材料无法用磁粉检测？

A.45钢

B.1Cr18Ni9Ti（奥氏体不锈钢）

C.20MnMo

D.球墨铸铁

答案：B

解析：奥氏体不锈钢为非铁磁性材料（磁导率接近1），无法被外加磁场有效磁化，因此不能用磁粉检测；其余选项均为铁磁性材料。

9.剩磁法检测时，工件的剩磁应至少达到饱和磁化强度的：

A.10%

B.30%

C.50%

D.80%

答案：C

解析：剩磁法依赖工件的剩磁吸附磁粉，要求剩磁至少达到饱和磁化强度的50%（约0.8T以上），否则漏磁场强度不足。

10.磁痕分析时，首先需要区分的是：

A.伪磁痕与真实缺陷磁痕

B.缺陷的长度与宽度

C.缺陷的类型（如裂纹、气孔）

D.缺陷的深度

答案：A

解析：磁痕可能由工件表面污染（如氧化皮、刻痕）、磁化电流过大（如边缘效应）等非缺陷因素产生（伪磁痕），需首先排除，再分析真实缺陷。

11.湿法磁粉检测中，磁悬液的浓度通常控制在：

A.0.1-0.5g/L（非荧光）、0.5-2.0g/L（荧光）

B.1-5g/L（非荧光）、0.1-0.5g/L（荧光）

C.10-20g/L（非荧光）、5-10g/L（荧光）

D.0.5-1.0mL/100mL（非荧光）、0.1-0.3mL/100mL（荧光）

答案：D

解析：湿法磁悬液浓度常用梨形沉淀管测量，非荧光磁粉浓度为0.5-1.0mL/100mL（沉淀体积），荧光磁粉为0.1-0.3mL/100mL（因荧光磁粉更细，需更低浓度避免背景污染）。

12.交叉磁轭法适用于检测：

A.复杂形状工件的任意方