测试与验证仿真：ATE测试仿真_（18）.ATE测试仿真中的测试激励与响应分析.docx

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2025-12-29 发布于辽宁
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ATE测试仿真中的测试激励与响应分析

在集成电路设计和集成系统中，自动测试设备（ATE）测试仿真是一项关键技术，用于验证和测试芯片的功能和性能。测试激励与响应分析是ATE测试仿真中不可或缺的一部分，它涉及到生成测试激励、捕获芯片响应以及分析这些响应以确保芯片按预期工作。本节将详细介绍测试激励与响应分析的原理和内容，并通过具体的例子说明如何在实际中应用这些技术。

测试激励的生成

测试激励是用于测试芯片的输入信号。这些信号可以是简单的数字信号，也可以是复杂的模拟信号或混合信号。生成测试激励的过程通常包括以下几个步骤：

定义测试目标：确定需要测试的芯片功能和性