（半导体材料测试）测试技术试题及答案.docVIP

2025年（半导体材料测试）测试技术试题及答案

分为第I卷（选择题）和第Ⅱ卷（非选择题）两部分，满分100分，考试时间90分钟。

第I卷（选择题共40分）

答题要求：请将正确答案的序号填在括号内。

一、单项选择题(总共10题，每题2分)

1.以下哪种方法不是半导体材料电学性能测试常用方法？（）

A.四探针法B.伏安法C.光谱分析法D.电导率测试法（答案：C）

2.测量半导体材料电阻率时，样品形状通常为（）

A.块状B.薄膜状C.丝状D.任意形状（答案：C）

3.半导体材料的霍尔系数与以下哪个因素无关？（）

A.载流子浓度B.载流子迁移率C.温度D.材料颜色（答案：D）

4.热探针法主要用于测量半导体材料的（）

A.热导率B.电导率C.禁带宽度D.载流子寿命（答案：A）

5.测量半导体材料电容时，常用的仪器是（）

A.示波器B.万用表C.电容测试仪D.频谱分析仪（答案：C）

6.半导体材料的光电导效应是指（）

A.光照下电阻增大B.光照下电阻减小C.光照下产生电动势D.光照下电流消失（答案：B）

7.以下哪种半导体材料测试技术可以用于分析材料的微观结构？（）

A.X射线衍射B.四探针法C.热导率测试D.电导率测试（答案：A）

8.测量半导体材料的少数载流子寿命常用的方法是（）

A.稳态光电导法B.四探针法C.伏安法D.电容测试法（答案：A）

9.半导体材料的功函数是指（）

A.电子逸出材料表面所需的最小能量B.电子在材料内部的能量C.材料的导电能力D.材料的热稳定性（答案：A）

10.以下哪种气体可以用于半导体材料的气氛测试？（）

A.氧气B.氮气C.氢气D.以上都是（答案：D）

二、多项选择题(总共10题，每题2分)

1.半导体材料电学性能测试包括（）

A.电阻率测量B.霍尔系数测量C.载流子迁移率测量D.电容测量（答案：ABCD）

2.四探针法测量半导体材料电阻率时，以下说法正确的是（）

A.电流从外侧两探针流入B.电压从内侧两探针测量C.可以消除接触电阻影响D.测量精度高（答案：ABCD）

3.半导体材料的载流子包括（）

A.电子B.空穴C.离子D.光子（答案：AB）

4.影响半导体材料电导率的因素有（）

A.载流子浓度B.载流子迁移率C.温度D.光照（答案：ABCD）

5.霍尔效应实验中可以测量的物理量有（）

A.霍尔电压B.电流C.磁场强度D.样品厚度（答案：ABC）

6.半导体材料的热学性能测试包括（）

A.热导率测量B.比热容测量C.热膨胀系数测量D.熔点测量（答案：ABC）

7.以下哪些是半导体材料的光学性能测试方法？（）

A.吸收光谱B.发射光谱C.拉曼光谱D.光致发光光谱（答案：ABCD）

8.测量半导体材料少数载流子寿命的方法有（）

A.稳态光电导法B.表面光电压法C.脉冲光激励法D.微波光电导衰减法（答案：ACD）

9.半导体材料的表面特性测试包括（）

A.表面态密度测量B.表面复合速度测量C.表面粗糙度测量D.表面元素分析（答案：ABCD）

10.半导体材料测试中常用的样品制备方法有（）

A.切割B.研磨C.抛光D.腐蚀（答案：ABCD）

三、判断题(总共4题，每题5分)

1.半导体材料的电阻率随温度升高一定增大。（×）

2.霍尔系数为零的半导体材料一定是本征半导体。（×）

3.热导率高的半导体材料一定具有良好的散热性能。（√）

4.光致发光光谱主要用于分析半导体材料的发光特性。（√）

第Ⅱ卷（非选择题共60分）

四、填空题(总共10题，每题2分)

1.半导体材料的电学性能主要包括（电阻率）、（载流子迁移率）、（霍尔系数）等。

2.四探针法测量电阻率时，样品的长度应（大于）探针间距。

3.半导体材料的载流子浓度可以通过（霍尔效应）测量得到。

4.热导率的单位是（W/(m·K)）。

5.半导体材料的吸收光谱反映了材料对不同波长光的（吸收能力）。

6.少数载流子寿命的测量对于研究半导体器件的（性能）具有重要意义。

7.半导体材料的表面态会影响材料的（电学）和（光学）性能。

8.半导体材料