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测控技术

·50·2025年第44卷第8期试验与测试

温度循环条件下电子产品加速寿命试验优化设计

之

侯松高，刘晓娣

（1.烟台市特种设备检验研究院，山东烟台264001；2.海军航空大学航空基础学院，山东烟台264001）

摘要：许多电子产品长期处于户外环境下，温度循环是影响其寿命的主要敏感应力。加速寿命试验

（AcceleratedLifeTest,ALT）是实现电子产品寿命快速、高效评估的一种有效手段。针对传统温度循环

ALT中温度循环条件设置随机性较大的问题，提出一种温度循环条件下电子产品ALT优化设计方法。

在确立加速模型的基础上，将温度循环参数等效为不同的应力，温度循环参数的不同取值等效为不同的

应力水平，采用均匀设计方法确定各参数取值的组合方式，以正常应力水平下产品寿命P阶分位数估

计的渐近方差最小为优化准则，根据极大似然估计理论建立试验优化设计的数学模型。算例分析表明，

该设计方法所得试验方案相比温度循环参数随机组合得到的方案具有更高的估计精度，试验次数更少。

该方法为温度循环条件下的ALT设计提供了一种有效途径。

关键词：加速寿命试验；优化设计；温度循环；电子产品

中图分类号：V240.2;TB114.3文献标志码：A文章编号：1000-8829(2025)08-0050-06

doi:10.19708/j.ckjs.2025.08.301

OptimalDesignofThermalCyclingALTsforElectronicProducts

HOUSonggao,LIUXiaodi?*

(1.YantaiSpecialEquipmentInspectionandResearchInstitute,Yantai264001,China;

2.AviationFoundationCollege,NavalAviationUniversity,Yantai264001,China)

Abstract:Manyelectronicproductsareexposedtooutdoorenvironmentsforalongtime,andthermalcyclingis

themainsensitivestressthataffectstheirlifespan.Acceleratedlifetest(ALT)isaneffectivemeanstorapidly

andefficientlyassessthelifeofelectronicproducts.Aimingattheissueofhighrandomnessinthesettingof

thermalcyclingconditionsintraditionalALTs,anoptimaldesignmethodofthermalcyclingALTsforelectronic

productsisproposed.Thethermalcyclingparametersareequivalentlyregardedasdifferentstresses,withvari-

ousparametervaluescorrespondingtodifferentstresslevels.Auniformdesignmethodisusedtodeterminethe

combinationofparametervalues,aimin