长程皮下隧道及常规脑室外引流术后感染率比较及颅内感染危险因素分析.pdfVIP

重庆医科大学学报2025年第50卷第3期（JournalofChongqingMedicalUniversity2025.Vol.50No.3）—409—

临床研究DOI：10.13406/ki.cyxb.003659

长程皮下隧道及常规脑室外引流术后感染率比较及颅内感染

危险因素分析

王垲，王雨涛，沈光建，冀建文，程塞宇，张云东

（重庆医科大学附属第三医院神经疾病中心，重庆401120）

【摘要】目的：探讨长程皮下隧道脑室外引流（longtunneledexternalventriculardrainage，LTEVD）与常规脑室外引流（external

ventriculardrainage，EVD）术后颅内感染率的差异，并分析患者颅内感染危险因素。方法：回顾性分析2020年1月至2022年12

月重庆医科大学附属第三医院神经疾病中心收治的45例实施脑室外引流患者的临床资料。其中13例行LTEVD治疗（LTEVD

组），32例行常规EVD治疗（EVD组）。记录2组的一般资料、术后引流管并发症及术后管理等，探讨其对降低颅内感染率的效

果，并根据术后是否发生颅内感染分为感染组（n=10）及非感染组（n=35），分析临床资料探讨颅内感染的危险因素。结果：

LTEVD组引流管置管天数继发感染率为2.40‰（1/417），低于EVD组引流管置管天数继发感染率27.19‰（9/331）（P=0.009）。

LTEVD组置管时间14~85d［27.00（22.50，36.50）d］长于EVD组置管时间8~22d［9.00（8.00，11.50）d］（P=0.000）。多因素logistic

回归分析结果显示脑脊液取样次数是脑室外引流患者术后颅内感染的独立危险因素，使用LTEVD治疗是脑室外引流术后颅

内感染的保护因素（P0.05）。结论：LTEVD较传统EVD可安全延长置管时间并降低脑室外引流患者术后颅内感染率，使用

LTEVD术式、降低脑脊液采样频率可以减少患者术后颅内感染的风险。

【关键词】引流术；脑脊髓液分流术；导管相关感染；长程皮下隧道脑室外引流；危险因素

【中图分类号】R651.1【文献标志码】A【收稿日期】2024-01-16

Infectionrateafterlong-tunneledexternalventriculardrainageversus

conventionalexternalventriculardrainageandriskfactors

forintracranialinfection

WangKai，WangYutao，ShenGuangjian，JiJianwen，ChengSaiyu，ZhangYundong

（DepartmentofNeurologyCenter，TheThirdAffiliatedHospitalofChongqingMedicalUniversity）

【Abstract】Objective：Toinvestigatethedifferenceinintracranialinfectionratebetweenlong-tunneledexternalventriculardrainage

（LTEVD）andconventionalexternalventriculardrainage（EVD），aswellastheriskfactorsforintracranialinfection.Methods：Aretro‐

spectiveanalysis