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静电放电抗扰度测试平台辐射场特性与影响因素研究

一、引言

1.1研究背景与意义

在电子设备的使用过程中，静电放电（ElectrostaticDischarge，ESD）是一种普遍存在且不可忽视的现象。当两个具有不同静电电位的物体相互靠近或接触时，就会发生静电放电，产生瞬间的高电压和大电流。这种瞬态的电磁现象能够对电子设备造成严重的危害。从元件层面来看，静电放电产生的瞬间高压可直接击穿敏感的电子元件，如集成电路芯片、晶体管等，造成元件永久性的损坏，使设备无法正常工作。即使静电放电的能量不足以直接损坏元件，也可能会导致设备性能下降，例如使设备的响应时间变长、信号传输出现偏差等。在数据存储方面，静电放电可能干扰存储设备，导致数据丢失或损坏，这对于存储有重要数据的电子设备而言，后果不堪设想。静电放电产生的电磁场还会对周围的电子设备造成电磁干扰，影响其正常运行。在电子设备的生产、保存、运输以及使用等各个环节，都有可能发生静电放电现象，因此消除静电以避免对电子设备造成影响是一个亟待解决的问题。

随着现代电子技术的飞速发展，电子设备的集成度越来越高，工作频率不断提升，而电子器件的尺寸却越来越小，这使得电子设备对静电放电的敏感度大幅增加，抗干扰能力面临严峻挑战。为了确保电子设备在复杂电磁环境下能够稳定、可靠地运行，对其进行静电放电抗扰度测试显得尤为重要。静电放电抗扰度测试旨在评估电子设备抵御静电放电干扰的能力，通过模拟实际应用中可能遇到的静电放电场景，检测设备在受到静电放电冲击时的性能表现，判断其是否满足相应的抗扰度要求。

静电放电抗扰度测试平台作为进行该项测试的关键工具，其性能和特性对测试结果的准确性和可靠性有着决定性的影响。而测试平台辐射场是其中一个重要的研究对象，它与静电放电的能量传播、电子设备受到的干扰程度等密切相关。研究测试平台辐射场，能够深入了解静电放电在测试环境中的电磁特性，揭示静电放电干扰电子设备的内在机制，从而为优化测试方法、提高测试的有效性和准确性提供坚实的理论基础。通过对辐射场的研究，还可以为电子设备的抗干扰设计提供有力的指导，帮助工程师有针对性地采取防护措施，如合理布局电路、优化屏蔽设计、选择合适的滤波器件等，以提高电子设备自身的抗静电放电能力，降低静电放电对设备造成的损害风险，进而提升设备的可靠性和稳定性。这对于保障电子设备在各种应用场景下的正常运行，推动电子产业的健康发展具有重要的现实意义。

1.2国内外研究现状

国际电工委员会（IEC）早在1991年就发布了最早的静电放电抗扰度试验标准IEC801-2，目前国际通用的是在1995年发布标准的基础上经过1998年和2000年两次修订后，从2001年正式执行的IEC61000-4-2标准。欧洲使用的EN61000-4-2标准与其对等，美国使用的ANSIC63.16标准也基本上基于IEC标准制定。我国现用的静电放电抗扰度试验标准GB/T17626.2等同于1995年的IEC61000-4-2标准，自1999年12月1日正式实施。这些标准对静电放电抗扰度试验方法和试验平台都有具体规范，规定了接触式放电和空气放电两种方式，以及4个试验等级和1个开放等级，并对试验程序等做了详细说明，同时还规定了台式设备和落地式设备两种试验配置（试验平台）。

然而，在按照现有试验标准进行抗扰度试验的过程中，暴露出诸多问题。不同厂家的模拟器静电放电抗扰度试验结果存在差异，这使得试验结果缺乏一致性和可比性，难以准确评估电子设备的抗扰度性能。模拟器开关对试验结果有显著影响，不同的模拟器高压开关产生的电磁辐射场差别很大，这进一步增加了试验结果的不确定性。对于空气放电方式，标准仅给出放电电压等级，而对放电接近速度、环境条件、电流波形等关键参数没有具体规定，这些参数的不确定性直接影响试验结果的准确性和可靠性。对一种ESD模型的抗扰度试验不能保证对其他ESD模型的抗扰度试验有效，例如对人体的ESD抗扰度试验方法不能保证对家具ESD抗扰度试验有效，这限制了试验方法的通用性和有效性。试验结果大多是定性的，很少能够给用户提供定量的试验结果，无法满足电子设备设计和改进过程中对精确数据的需求。用户缺乏标准的试验数据库可借鉴或比照，使得在评估电子设备抗扰度时缺乏参考依据，难以判断试验结果的优劣。

针对这些问题，国内外学者展开了广泛研究。美国密苏里大学的学者在2004年最后一期IEEEEMC上发表两篇文章，对静电放电抗扰度试验和试验标准进行了深入研究，发现ESD失效电平与感应环上环感应的电压有很好的相关性，而峰值电流的导数和上升时间与失效电平没有很好的相关性，环上的