宣贯培训(2026)GBT 24581-2022硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法.pptxVIP

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目录

一、从微米到量子时代：为何精准测定III、V族杂质是未来半导体产业命脉所系的根基性挑战？

二、超越传统方法的桎梏：深度剖析低温傅立叶变换红外光谱法何以成为硅单晶杂质分析的“黄金标准”

三、拨开红外光谱的迷雾：专家视角解读硅中III、V族杂质特征吸收峰的精准识别与干扰排除全攻略

四、魔鬼藏于细节之中：GB/T24581-2022标准核心操作流程——从样品制备到低温测量的每一步深度解构

五、从光谱数据到精准报告：权威解析标准中数据处理、定量计算及结果不确定度评估的核心算法与疑难点

六、实验室能力的试金石：如何依据GB/T24581-2022建立并验证您