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散斑干涉技术：多领域应用与高精度测量的深度剖析

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代科学研究与工业生产中，对物体的精确测量始终是一个核心问题。从微观尺度的材料结构分析，到宏观尺度的大型工程结构监测，测量精度的高低直接影响着产品质量、工程安全以及科学研究的准确性。随着各领域对高精度测量需求的不断增长，传统测量技术的局限性日益凸显，如机械接触式测量容易对被测物体造成损伤，且在测量精度和测量范围上存在较大限制，难以满足现代工业对高精度、非接触测量的要求。在此背景下，散斑干涉技术作为一种先进的光学测量手段应运而生。

散斑干涉技术利用光波的干涉效应，通过对散斑图案的分析来获取物体的变形、位移、表面