氨热法生长GaN体单晶的技术剖析与物性研究.docxVIP

  • 1
  • 0
  • 约4.54万字
  • 约 34页
  • 2026-02-09 发布于上海
  • 举报

氨热法生长GaN体单晶的技术剖析与物性研究.docx

氨热法生长GaN体单晶的技术剖析与物性研究

一、引言

1.1研究背景与意义

在半导体材料的发展历程中,从以硅(Si)、锗(Ge)为代表的第一代半导体,到以砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)为代表的第二代半导体,再到如今以氮化镓(GaN)、碳化硅(SiC)等为代表的第三代半导体,每一次的材料革新都推动着电子技术实现跨越式发展。其中,氮化镓凭借其宽禁带、高击穿电场、高电子迁移率以及高热导率等优异特性,成为了半导体领域的研究热点与发展前沿,在光电子、电力电子以及射频微波等众多关键领域展现出了巨大的应用潜力。

在光电子领域,氮化镓基发光二极管(LED)已广泛应用于照明、显示等方面,极大地改变了人

您可能关注的文档

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档