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- 2026-02-25 发布于重庆
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[19]中华人民共和国国家知识产权局[51]Int.Cl.
HO1J9/02(2006.01)
[12]发明专利申请公布说明书
[21]申请号200710086664.4
[43]公开日2007年8月22日[11]公开号CN101022068A
[22]申请日2007.3.29
[21]申请号200710086664.4
[71]申请人长春理工大学
地址130022吉林省长春市朝阳区卫星路
7089号
[72]发明人端木庆铎李野王国政姜德龙付申成吴奎王新
[74]专利代理机构中国兵器工业集团公司专利中心代理人曲博
权利要求书1页说明书2页附图2页
[54]发明名称
硅微通道内连续打拿极的制作方法
[57]摘要
硅微通道内连续打拿极的制作方法涉及到的是一种在长径比大于40的硅单晶基体微孔深通道内制作连续打拿极的方法,最终制得微通道板,属于光电成像技术领域。现有采用玻璃骨架制作的微通道板噪声高、分辨率低。本发明采用硅单晶微通道阵列骨架作为微通道板基体,先在硅单晶微通道阵列骨架表面制作SiO?绝缘层,再在该绝缘层上制作硅结晶导电层,最后将该导电层表层一部分硅热敏化
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