基于跨尺度聚合与全局注意力的头影标志点检测研究.pdf

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基于跨尺度聚合与全局注意力的头影标志点检测研究

摘要

头影测量分析在评估颅面生长和异常方面起着至关重要的作用,尤其是在正畸和正颌

疾病的临床诊断与治疗过程中,一个极为关键的步骤是在头影侧位X光片上准确识别特定

的标志点。传统的头影测量方法依赖于手动识别和标记标志点,这个过程不仅耗时费力,

而且由于主观因素以及临床医生经验水平各不相同,容易出现误差,导致测量结果不一致。

近年来,基于深度学习的头影标志点检测技术显著提升了检测效率和精度,降低了人

工依赖。然而,现有方法仍存在一定的局限

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