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CN114441934B 一种针对芯片级的测试验证系统及芯片检测的方法 （深圳市紫光同创电子股份有限公司）.docxVIP

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  • 2026-03-19 发布于山西
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CN114441934B 一种针对芯片级的测试验证系统及芯片检测的方法 （深圳市紫光同创电子股份有限公司）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利

    (10)授权公告号CN114441934B

    (45)授权公告日2025.05.13

    (21)申请号202111602923.0

    (22)申请日2021.12.24

    (65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN114441934A

    (43)申请公布日2022.05.06

    (73)专利权人深圳市紫光同创电子股份有限公司

    地址518000广东省深圳市南山区粤海街

    道高新区社区高新南一道015号国微研发大楼401

    (72)发明人黄枭李雪良洪万帆许明亮

    (74)专利代理机构深圳国新南方知识产权代理有限公司443

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