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GB/T 4937.9-2026半导体器件　机械和气候试验方法　第9部分：标志耐久性.pdf

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  • 2026-03-20 发布于四川
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  •   |  2026-02-27 颁布
  •   |  2026-09-01 实施

GB/T 4937.9-2026半导体器件　机械和气候试验方法　第9部分：标志耐久性.pdf

    ICS31.080.01

    CCSL40

    中华人民共和国国家标准

    /—/:

    GBT4937.92026IEC60749-92017

    半导体器件机械和气候试验方法

    :

    第部分标志耐久性

    9

    ——

    SemiconductordevicesMechanicalandclimatictestmethods

    :

    Part9Permanenceofmarking

    (:,)

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