降低心脏植入型电子器械（CIED）植入术住院死亡率策略探讨.docxVIP

降低心脏植入型电子器械（CIED）植入术住院死亡率策略探讨

心脏植入型电子器械（CIED）包括植入式心脏起搏器（PM）、植入式心律转复除颤器（ICD）、心脏再同步治疗器械（CRT）及植入式心脏监测器（ICM）等，是治疗症状性心动过缓、预防心源性猝死、改善心力衰竭患者预后的核心介入手段[2]。随着人口老龄化加剧、CIED临床应用范围不断扩大，其植入量逐年攀升，但植入术相关住院死亡率仍存在一定发生率，主要与患者基础疾病、手术操作、围手术期管理及并发症防控等多因素相关。为进一步规范CIED植入诊疗流程，提升医疗质量安全，降低住院死亡率，结合《手术质量安全提升行动方案(2023-2025年)》要求及临床实践经验，结合最新临床研究与技术进展，对相关策略进行系统探讨，为临床诊疗工作提供参考。

一、CIED植入术住院死亡相关危险因素分析

明确CIED植入术住院死亡的核心危险因素，是制定针对性防控策略的前提。结合临床实践及相关研究，其危险因素主要分为患者自身因素、手术相关因素及围手术期管理因素三大类，各因素相互关联、协同影响死亡风险。

（一）患者自身基础因素

患者基础疾病严重程度是影响住院死亡率的首要因素。CIED植入患者多为老年群体，常合并多种基础疾病，其中严重心力衰竭（NYHAⅢ-Ⅳ级）、严重冠心病（尤其是多支血管病变、心肌梗死病史）、严重肝肾功能不全、糖尿病、慢性肺部疾病、恶性肿瘤及免疫