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国际研发资本技术溢出效应研究文献综述

国际研发资本技术溢出效应已得到众多学者的肯定。早期，从技术溢出视角对国际研发资本进行分析的主要以Coe和Helpman（1995）CoeD.T.,HelpmanE..InternationalRDSpillovers[J].EuropeanEconomicReview,1995,39(5):859-887.以及Lichtenberg和Pottelsberghe（1998）LichtenbergF.R.,PotterieB.V.P.D.L..InternationalRDSpilloversAComment[J].EuropeanEconomicReview,1998,42(8):1483-1491.为代表，前者以发达国家为研究对象，通过构建Coe-Helpman模型（简称CH模型），实证探究了国际贸易技术溢出效应的存在性；后者通过对CH模型加以改进，从国际研发资本技术溢出的三个方面，即外商直接投资（FDI）、对外直接投资（OFDI）以及国际贸易，理论分析了国际研发资本技术溢出效应的存在性。

CoeD.T.,HelpmanE..InternationalRDSpillovers[J].EuropeanEconomicReview,1995,39(5):859-88