双旋转波片Mueller矩阵测量系统的理论分析.ppt

双旋转波片Mueller矩阵测量系统的理论分析报告人：侯俊峰

指导老师：王东光2009.9

研究目的：拟建立一套能够对磁分析器精密定标的实验室检测设备，在此基础上完成对磁分析器的定标。磁分析器的测量精度主要决定于该设备的检测精度，因此该系统的校准、系统误差、检测精度是研究的重点。

主要内容：双旋转波片Mueller矩阵测量系统的基本原理误差分析下一步的工作

第一部分：基本原理测量系统示意图1.1基本原理

令：理想情况下：易得：I的Fourier系数是M中各个元素的线性函数。Fourier变换求得各个系数，然后通过一系列的线性方程组求得M的所有元素。Azzam,R.M.A,OpticsLetters,1978

1.2三种方法比较法一：直接测量原理：调整两波片的方位角，使A和P各获取4个线性无关的Stokes矢，从而得到16个以M各元素为未知数的线性无关方程组。解方程组，求得M矩阵。缺点：手动调整，不方便且误差大，测量时间长。法二：半自动测量原理：一波片（R1）以一定的角速度旋转，另一波片（R2）固定。R2每转动一个方位后，固定R2，R1旋转，探测器以一定频率接收。多次转动R2，探测得到一系列M元素的线性方程组，由最小二乘法可求得M。缺点：R2需要手动调整，误差较大，测量周期也较长。法三：全自动测量（双旋转波片Mueller矩阵测量系统）优点：电