CN119579583B 一种pcb表面缺陷检测方法、系统、电子设备及介质 (深圳市塔联科技有限公司).docxVIP

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  • 2026-05-17 发布于山西
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CN119579583B 一种pcb表面缺陷检测方法、系统、电子设备及介质 (深圳市塔联科技有限公司).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN119579583B

(45)授权公告日2025.05.06

(21)申请号202510121261.7

(22)申请日2025.01.26

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN119579583A

(43)申请公布日2025.03.07

(73)专利权人深圳市塔联科技有限公司

地址518100广东省深圳市宝安区福海街

道塘尾社区永福路258号天福城商务中心501

(72)发明人刘丹胡勇罗晓明

(74)专利代理机构深圳市中科专匠知识产权代理事务所(普通合伙)

441096

专利代理师吴志伟甘晓媛

(51)Int.Cl.

G06T7/00(2017.01)

G06N3/0464(2023.01)

G06T7/40(2017.01)

G06T7/73(2017.01)

G01N21/956(2006.01)

(56)对比文件

CN104764752A,2015.07.08

CN115082467A,2022.09.20审查员李富贵

权利要求书4页说明书13页附图2页

(54)发明名称

一种PCB表面缺陷检测方法、系统、电子设备

及介质

(57)摘要

CN119579583B本发明公开了一种PCB表面缺

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