CN119579590A 一种大米加工精度检测方法、电子设备和存储介质 （北京中仪智控科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119579590A

(43)申请公布日2025.03.07

(21)申请号202510131413.1

(22)申请日2025.02.06

(71)申请人北京中仪智控科技有限公司

地址100071北京市丰台区南四环西路188

号十八区25号楼1层至15层101内12层1209室

(72)发明人李勇

(74)专利代理机构北京中和立达知识产权代理

有限公司11756

专利代理师杨志培

(51)Int.Cl.

G06T7/00(2017.01)

G06T7/11(2017.01)

G06T7/62(2017.01)

G06T3/4038(2024.01)

G06N3/0455(2023.01)

G06N3/0464(2023.01)

权利要求书2页说明书8页附图4页

(54)发明名称

一种大米加工精度检测方法、电子设备和存

储介质

(57)摘要

CN119579590A本发明实施例公开了一种大米加工精度检测方法、电子设备和存储介质，涉及图像处理技术领域。其中，方法包括：获取未染色大米的外表面图像，所述外表面图像包括正面图像和/或其它表面图像；利用图像分割算法，对所述外表面图像中的种皮区域、胚乳区域和大米完整区域进行分割；利用所述种皮区域、胚乳区域和大米完