CN119599956A 一种基于深度学习的键合引线缺陷检测方法 （北京工业大学）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119599956A

(43)申请公布日2025.03.11

(21)申请号202411594882.9

(22)申请日2024.11.11

(71)申请人北京工业大学

地址100124北京市朝阳区平乐园100号

(72)发明人于乃功李奥杨弈

(74)专利代理机构北京思海天达知识产权代理

有限公司11203

专利代理师刘萍

(51)Int.Cl.

G06T7/00(2017.01)

G06T5/40(2006.01)

G06V10/774(2022.01)

G06V10/764(2022.01)

G06V10/82(2022.01)

G06N3/0464(2023.01)

G06T5/60(2024.01)

G06T5/70(2024.01)

权利要求书3页说明书8页附图4页

(54)发明名称

一种基于深度学习的键合引线缺陷检测方

法

(57)摘要

CN119599956A本发明提出了一种基于深度学习的键合引线缺陷检测方法，能够完成对键合引线缺陷类型的识别，实现集成电路产品中引线键合质量问题的自动检测，旨在解决劳动强度大、检测效率低等问题。流程包括：搭建键合引线采集物理平台，通过立体相机获取键合引线的深度图像，将采集到的深度图进行