GBT 44937-8：2025辐射发射测量IC带状线法学习与解读.pptxVIP

GBT 44937-8：2025辐射发射测量IC带状线法学习与解读.pptx

GB/T44937-8:2025辐射发射测量IC带状线法学习与解读

测量原理基础

标准背景与概述

测量方法详解

测试设备与环境要求

数据处理与结果分析

应用实践与展望

标准背景与概述

统一测试方法

为集成电路（IC）电磁辐射发射测量提供标准化技术依据，解决行业因方法不统一导致的数据可比性问题。

提升测量精度

通过规范IC带状线法的操作流程和设备要求，减少人为和环境因素对测试结果的干扰，确保数据准确性。

支持产品研发

为IC设计厂商提供可靠的辐射发射评估手段，助力优化电磁兼容性（EMC）设计，缩短产品上市周期。

国际接轨

等同采用IEC61967-8:2023国际标准，促进国内外技术交流与贸易便利化。

推动行业规范

填补国内IC电磁发射测量领域的标准空白，完善电子元器件测试标准体系。

标准制定目的与意义

适用范围与核心定义

适用对象

标准适用于工作频率在150kHz至1GHz范围内的集成电路，涵盖数字、模拟及混合信号IC的辐射发射测量。

核心设备

明确IC带状线结构的定义，包括有效导体、地平面及EMC试验板（PCB）等关键组件的要求。

测试场景

规定实验室环境条件（如温度、湿度、电磁屏蔽等级）及被测IC的供电与信号加载方式。

术语界定

对“辐射发射”“带状线法”“有效导体”等专业术语进行标准化定义，避免

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