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GB/T44937-6:2025传导发射测量磁场探头法

目录

02

测量原理

01

概述与范围

03

设备要求

04

测试方法

05

数据处理与分析

06

标准符合性验证

概述与范围

01

标准背景与目的

产业升级推动

随着5G、AI芯片对电磁兼容性要求提高，标准为芯片设计提供量化依据，推动从合规测试向预防性设计转变，降低后期整改成本。

高精度测量要求

针对高频集成电路（150kHz-1GHz）传导发射测量场景，传统方法存在信号衰减问题，本标准通过磁场探头法建立非接触式测量体系，提升数据准确性和重复性。

国际标准接轨需求

GB/T44937.6-2025等同采用IEC61967-6:2008国际标准，旨在统一集成电路传导发射测量的磁场探头法技术规范，消除国内外测试结果差异，助力国产芯片参与国际竞争。

适用范围与限制

4

环境条件约束

3

探头类型限制

2

频率范围界定

1

适用对象明确

要求测试环境背景噪声至少低于限值6dB，对屏蔽室、接地网络等配套设施有明确规范。

测量频段严格限定在150kHz至1GHz，超出此范围需结合GB/T44937.4等直接耦合法进行互补测试。

仅认可环形磁场探头（电流探头）和近场扫描探头两类设备，排除电场探头等其他非标测量方式。

标准适用于集成电路引脚、封装或PCB走线的传导发射测量，特别是电源线和高速信号线的磁场辐射评估，覆盖裸芯片至封装