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光电测量技术试卷及解析

一、单项选择题（共10题，每题1分，共10分）

下列基于内光电效应工作的光电探测器是（）

A.光电倍增管

B.光电二极管

C.真空光电管

D.红外变像管

答案：B

解析：内光电效应是指光照使半导体材料电导率变化或产生光生伏特效应的现象。光电二极管利用半导体的光电导效应，属于内光电效应探测器，故B正确。光电倍增管、真空光电管、红外变像管均基于外光电效应（光照使材料表面逸出电子）工作，属于外光电效应探测器，故A、C、D错误。

光电测量中，常用于检测微小位移的非接触式传感器是（）

A.应变片

B.激光干涉仪

C.热电偶

D.机械千分尺

答案：B

解析：激光干涉仪利用激光的干涉原理，可将微小位移转换为光程差变化，实现纳米级精度的非接触式位移测量，是微小位移检测的核心器件，故B正确。应变片、机械千分尺属于接触式测量器件，热电偶用于测量温度，均不适用微小位移的非接触检测，故A、C、D错误。

光电测量系统中，完成光信号到电信号转换的核心部件是（）

A.光源

B.光学镜头

C.光电探测器

D.信号放大器

答案：C

解析：光电测量系统的核心功能是光-电转换，光电探测器直接接收光信号并转换为对应电信号，是系统的核心转换部件，故C正确。光源提供入射光，光学镜头用于光的光路调整，信号放大器用于放大微弱电信号，均不完成光-电转换，故A、B、D错误。

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