CN119855199B 一种半超结高可靠平面栅碳化硅vdmos及制备方法 (泰科天润半导体科技(北京)有限公司).docxVIP

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  • 2026-07-07 发布于山西
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CN119855199B 一种半超结高可靠平面栅碳化硅vdmos及制备方法 (泰科天润半导体科技(北京)有限公司).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN119855199B

(45)授权公告日2025.07.04

(21)申请号202510347753.8

(22)申请日2025.03.24

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN119855199A

(43)申请公布日2025.04.18

(73)专利权人泰科天润半导体科技(北京)有限公司

地址101300北京市顺义区中关村科技园

区顺义园临空二路1号

(72)发明人何佳陈彤周海胡臻

(74)专利代理机构福州市京华专利代理事务所(普通合伙)35212

专利代理师刘晓明

(51)Int.Cl.

H10D30/66(2025.01)

H10D30/01(2025.01)

H10D62/10(2025.01)

H10D62/83(2025.01)

(56)对比文件

CN103489785A,2014.01.01

CN117995685A,2024.05.07审查员黄万国

权利要求书1页说明书5页附图8页

(54)发明名称

一种半超结高可靠平面栅碳化硅VDMOS及制

备方法

(57)摘要

本发明提供了一种半超结高可靠平面栅碳化硅VDMOS及制备方法,所述方法包括:在碳化硅衬底下侧面淀积金属,形成漏极金属层;在碳化硅衬底上侧面外延生

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