《集成电路测试》课件 三、转塔式分选机测试常见异常故障排除.pptxVIP

项目12芯片测试工艺流程

【任务38】添加标题项目12芯片测试工艺流程三、转塔式分选机测试常见异常故障排除1．吸嘴未吸起芯片（1）异常现象——吸嘴未吸起芯片，测试位有芯片遗留?（2）异常分析吸嘴设备出现故障。（3）故障处理联系技术人员进行维修。

【任务38】添加标题三、转塔式分选机测试常见异常故障排除2．良品率偏低（2）异常分析异常原因包括测试程序调用错误、芯片来料异常、设备测试工位异常等。（3）故障处理测试程序调用错误时，需要重新调用程序，并重新进行测试；芯片来料异常时，需要通知质量工程师处理；设备测试工位异常时，工位测试员通过可视化系统报修，由