SJT 12040-2025 数字芯片设计一致性验证方法标准立项发展报告.docxVIP

标题

数字芯片设计一致性验证方法标准立项发展报告

英文标题

StandardizationDevelopmentReport:DigitalChipDesignConsistencyVerificationMethod

摘要

随着集成电路设计复杂度的指数级增长，尤其是先进制程（如7nm及以下）和异构集成技术的普及，数字芯片设计中的功能一致性问题日益突出。设计流程中从RTL（寄存器传输级）代码到门级网表，再到最终版图，以及不同EDA（电子设计自动化）工具之间的迭代，极易产生因抽象层次转换或工具算法差异导致的设计不一致性，进而引发高昂的流片失败风险。为应对这一行业共性挑战，规范数字芯片设计验证流程，确保设计意图在各阶段准确传递，SJ/T12040-2025《数字芯片设计一致性验证方法》标准应运而生。本标准由中国电子技术标准化研究院牵头，联合国内多家头部EDA厂商及芯片设计企业共同研制。报告首先阐述了标准制定的产业背景与技术需求，分析了当前数字芯片设计验证领域面临的“功能等价性检查”难题。其次，详细介绍了标准的核心技术内容，包括一致性验证的范畴界定、验证方法分类（如组合逻辑等价性检查、时序逻辑等价性检查、黑盒与白盒验证策略）、验证流程标准化要求以及形式化验证引擎的应用规范。报告指出，该标准填补了国内在数字芯片设计一致性验证领域的空白，为国产EDA工具发展与行业应用提供