XRD宏观残余应力测定
报告人:林建平
导师:王献辉教授
主要内容
残余应力定义
XRD测定原理
测定方法
残余应力计算软件的使用
测试方法的优缺点及用途
残余应力
定义:产生应力的各种外载荷(力、温度等)去除后,在物体内依然存在的应力。
测定原理
残余应力晶格畸变晶面间距变化
XRD衍射峰位置发生偏移
测量衍射峰偏移的多少
计算残余应力的大小
2dsinθ=Nλ
Δθ
晶面间距随应力变化示意图
测定方法
采用sin2ψ法
计算公式为:
其中
(半高宽法)确定衍射角2θ
计算K值
计算M值(最小二乘法)
计算应力σ=K.M
计算软件的简介
计算软件的简介
计算软件的简介
注意事项
表面状态:试样采用化学或电解抛光,不采用机械抛光
晶粒度:大小在30μm左右最好,不大于100μm
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