《结构光研究现状的文献综述》2200字.docx

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结构光研究现状的文献综述

结构光三维测量技术REF_Ref32569\r\h[1]被分为两种类型,一种是接触式的,而另外一种是非接触式测量。其中三坐标测量仪是接触式方法最典型的代表,应用此种方法的还有原子力显微镜和扫描隧道显微镜等,由于该技术的测量仪器需要接触到被测物体,对被测物体造成损坏是很有可能的事情,因此这种适用范围极其有限。对于一些非常珍贵的物品,比如文物、瓷器、琉璃器件等等,如果采用接触式测量非常容易损坏物品,而且往往这个损坏是致命性且不可估计的,不仅产品外观会受到不小的影响,而且产品的使用价值和功能也会受到不可估量的影响,接触式测量效率低下,设备维护

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