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DFT设计工程师考试试卷及答案

DFT设计工程师考试试卷及答案

一、填空题（共10题，每题1分）

1.扫描设计中，普通触发器被替换为______。

2.最常用的固定故障模型是______故障。

3.MBIST主要用于测试______单元。

4.ATPG的全称是______。

5.扫描测试包含______和捕获两种模式。

6.DFT的核心目的是提高电路的______。

7.Transition故障测试需要______个连续的测试向量。

8.LBIST的中文全称是______。

9.扫描链长度增加会导致______时间延长。

10.测试覆盖率是检测到的故障数与______的比值。

二、单项选择题（共10题，每题2分）

1.扫描触发器与普通触发器的主要区别是？（）

A.增加扫描输入/输出端口

B.运行速度更快

C.芯片面积更小

D.功耗更低

2.MBIST的测试对象主要是？（）

A.组合逻辑电路

B.存储单元

C.时钟树

D.互连线路

3.Stuck-at-0故障表示节点？（）

A.始终输出逻辑0

B.始终输出逻辑1

C.无法翻转

D.开路

4.以下属于ATPG工具的是？（）

A.TetraMAX

B.PrimeTime

C.DesignCompiler

D.ICCompiler

5.扫描插入流程的正确顺序是？（）

A.定义扫描链→插入扫描触发器→连接扫描链→生成测试向量

B.插入扫描