CN119413275A 太赫兹源辐射强度远场测量装置、方法及调试光路的方法 (西安应用光学研究所).pdfVIP

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  • 2026-08-31 发布于重庆
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CN119413275A 太赫兹源辐射强度远场测量装置、方法及调试光路的方法 (西安应用光学研究所).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119413275A

(43)申请公布日2025.02.11

(21)申请号202411604964.7

(22)申请日2024.11.12

(71)申请人西安应用光学研究所

地址710

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