《现代材料分析测试技术》课件——项目1:电子显微分析技术.pptxVIP

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  • 2026-10-31 发布于福建
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《现代材料分析测试技术》课件——项目1:电子显微分析技术.pptx

1.1像差校正电子显微术

1像差校正电子显微术

在透射电子显微镜(TEM)的发展史中,提高分辨率一直是科学家们追求的重要目

标。然而,电镜的分辨率受到多种因素的限制,其中最关键的是光学系统中固有的

像差。这些像差,包括球差、色差和像散,会导致成像时电子波前的畸变,从而影

响到成像的清晰度和精确度。传统的电镜设计无法完全消除这些像差,尤其是球差,

它是由于电子透镜的球面形状导致电子束在焦平面上无法完美会聚的结果。这种球

面像差限制了电镜在高分辨率下的性能,因为即使在理想条件

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