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《现代材料分析测试技术》课件——项目4：先进谱学技术.pptxVIP

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  • 2026-10-31 发布于福建
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《现代材料分析测试技术》课件——项目4：先进谱学技术.pptx

    4.1原位X射线光电子能谱

    1.1引言

    X射线光电子能谱仪（XPS）是一种有效的表面分析技术，广泛用于基础科研、

    先进材料研究、高精尖技术等领域。XPS利用X射线辐射样品，使得原子或分

    子的内层电子或者价电子受到激发而成为光电子，通过测量光电子的信号来表

    征样品表面的化学组成、各元素的结合能以及价态。瑞典Uppsala大学的K.

    Siegbahn及同事于上世纪60年代中期开发研制了XPS这种新型的表面分析仪

    器。目前XPS已经成为研究

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