ISO 17867-2020 粒度分析 小角度X射线散射 标准立项发展报告.docxVIP

粒度分析小角度X射线散射标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:ParticleSizeAnalysis—SmallAngleX-rayScattering(SAXS)

摘要

小角度X射线散射（SAXS）技术是表征纳米至亚微米尺度材料结构的重要分析方法，在纳米材料、生物大分子、聚合物、药物制剂等领域具有广泛应用。ISO17867:2020《粒度分析小角度X射线散射（SAXS）》是国际标准化组织针对该技术发布的现行国际标准，为SAXS方法在粒度分析中的应用提供了统一的技术规范和操作指南。本报告系统梳理了该标准的立项背景、技术内容、编制依据及应用价值，分析了SAXS技术在全球标准化体系中的定位与发展趋势。报告指出，该标准的实施有助于提高纳米材料粒度分析结果的准确性、可比性和可重复性，为科研机构、检测实验室和工业生产企业提供了权威的技术参考。通过对标准核心内容的解读和参与单位工作的介绍，本报告旨在推动该标准在我国的推广应用，并为相关领域的技术标准化工作提供参考借鉴。

关键词：小角度X射线散射；粒度分析；纳米材料；国际标准；ISO17867；结构表征；标准化

Keywords:SmallAngleX-rayScattering;ParticleSizeAnalysis;Nanomaterials;