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HSF检测管理规范

文档编号

WI-QS-014

版本号

A/0

生效日期

2024年1月1日

密级

内部公开

编制部门

品质部

分发号

001

1.目的

为规范（以下简称“本公司”）有害物质过程管理（HSF）的检测工作，确保所有电子元器件及原材料符合RoHS、REACH及客户特定的环保法规要求，特制定本管理规范。本规范旨在建立科学、严谨、可追溯的检测流程，有效识别和管控有害物质风险，保障产品质量，提升客户满意度，并持续满足国际环保合规标准。

2.适用范围

本规范适用于本公司采购的所有电子元器件、塑胶件、五金件、包装材料及辅料等物料的HSF检测管理。涵盖从新物料承认、量产定期监控、工程变更（ECN）验证到客户投诉异常追溯的全生命周期HSF检测活动。

3.术语定义

HSF(HazardousSubstanceFree)：有害物质免除，指产品中不含有超过规定限值的特定有害物质。

XRF(X-RayFluorescence)：X射线荧光光谱仪，用于物料中重金属元素的快速无损筛查。

ICP(InductivelyCoupledPlasma)：电感耦合等离子体发射光谱法/质谱法，用于对XRF筛查异常或高风险物料进行精确定量化学分析。

第三方检测机构：具备ISO/IEC17025资质，且被本公司认可的独立外部检测实验室（如SGS、TüV、CTI等）。

均质材料：指不能通