基于红边位置提取验证成像与非成像高光谱数据的一致性.pdfVIP

第3l卷，第9期 and 1 2 01 1年9月 SpectralAnalysis September，201 Spcctroscopy 基于红边位置提取验证成像与非成像高光谱数据的一致性 王大成h2，张东彦h2，赵晋陵1，李存军1，朱大洲1，黄文江1，李宇飞3，杨小冬¨ 1．国家农业信息化工程技术研究中心，北京100097 2．浙江大学农业遥感与信息技术应用研究所，浙江杭州 310029 3．科学技术部中国农村技术开发中心星火与信息处，北京100054 摘要定量遥感是当前遥感发展的前沿，作物组分信息解析是农业定量遥感的研究热点，而成像高光谱 技术为解决微观尺度的作物组分信息探测研究提供了强有力的手段。利用成像光谱仪(pushbroomimaging ProFR2500，ASD)同步收集冬小麦、玉米不同生育期叶片的反 spectrometer，PIS)与地物光谱仪(FieldSpec 射光谱，通过不同算法提取PIS与ASD数据的红边位置，验证成像光谱数据的精度。结果表明：(1)PIS与 ASD原始光谱数据在红边区间(670～740rim)有很高的吻合度；(2)从室内光谱(玉米叶片)红边位置的提取 结果看，两仪器提取的红边位置都集中在700～720nm；(3)从事外光谱(小麦叶片)红边位置的提取结果看， PIS与ASD数据提取结果有差异，PIS数据的红边位置在760n／n处，而ASD数据的红边位置在720nln处， 这种差异主要是成像光谱数据受氧气吸收的影响较大所致；(4)PIS与ASD的红边变幅不同，但趋势相同。 以上结论为成像光谱数据的深入应用提供了参考。 关键词红边位置；成像高光谱；玉米；冬小麦；叶片 中图分类号：S127文献标识码：A DOI：10．3964／j．issrLl000-0593{2011)09—2450—05 边区间(670～780nm)最大斜率的波长，红边位置向长波或 引 言 短波方向的移动常被用来估测叶片叶绿素含量和叶面积，是 诊断植被胁迫和衰老的一个重要指标L9’10|。由于红边位置是 微观尺度的作物组分信息解析一直是农业定量遥感的研 指红一近红外斜率的转折点，因此其精确计算需要此区域许 究热点[1]。由于遥感仪器性能的限制，国内外科学家日前还 多窄波段的光谱测量数据。目前．红边参数的计算方法主要 主要利用非成像高光谱仪进行农作物长势监测与机理探测研 分为两类，一类是基于导数光谱，如最大一阶导数法[11|、线 究[2’3]。近年来，随着材料科学的飞速发展和对田块尺度作性外推法[1“、拉格朗日内插法[131等，另一类则基于曲线拟 物精细管理的需求，低成本、高性能的成像光谱仪的开发与 合技术，如多项式拟合法[1‘‘、四点内插法[1“、倒高斯模型 近地田间应用成为农业定量遥感的一个重要方向[‘]。 法【16j等。为了利用成像光谱数据进行微观尺度的精细研究， 成像高光谱技术，不仅具有非成像高光谱技术信息量丰 本文通过对成像与非成像高光谱数据提取的红边位置进行比 富、快速、无损诊断的优点，还有实时成像的特点。。基于其 对，分析两仪器获取数据的一致性，从而验证成像光谱仪的 图谱合一的优势，我们既能对田块、群体尺度的农作物进行 性能，最终为成像光谱数据的深入挖掘提供参考。 研究，又能对微观个体、组分尺度的信息进行探测与解析， 这为研究群体特性、作物个体及其转换机理提供了重要的工 1材料与方法 具。 红边是绿色植被特有的光谱特征之一，是由于植被在红 1．1试验设