低温等离子体原子荧光光谱法直接测定固体样品中的汞.docVIP

第一作者电话低温等离子体原子荧光光谱法直接测定固体样品中的汞 杨萌1，薛蛟1,2，李铭1,2，李佳1，黄秀1，邢志1* (1 清华大学化学系，北京，100084) （2 北京理工大学生命学院，北京，100081) 摘Low Temperature Plasma)与原子荧光光谱仪(Atomic?Fluorescence?Spectroscopy?)联用直接检测ABS固体样品中汞(Hg)的方法。此实验中采用介质阻挡放电（DBD）方式产生低温等离子体，剥蚀固体样品后产生的元素蒸汽引入到原子荧光光谱仪进行检测。所采用的优化条件包括DBD外接电源的放电功率为16～18w，放电气体流速为400 mL/min，采样距离为1～5 mm以及原子荧光光谱仪的原子化器高度为10 mm。本系统测定Hg的检出限为0.91mg/kg，线性范围为91.5～1096 mg/kg，精密度(RSD, n=7)为1.9%～2.3%，并对标准样品以及实际样品进行测定，测定结果与标准值与ICPMS及CVG-AFS一致，表明此方法可作为直接检测固体样品的新型元素分析技术。 关键词 低温等离子体；介质阻挡放电；汞；原子荧光 引言 汞广泛应用于电子、电器产品，但是汞是一种剧毒的重金属，其可通过呼吸道、皮肤或消化道等途径侵入人体，造成神经性中毒和深部组织病变[1]。由此,自2003年2月13日起，欧盟出台