近场扫描光学显微（NSOM）技术在拉曼光谱中的应用概述.pdfVIP

近场扫描光学显微（NSOM）技术在拉曼光谱中的应用概述 An Overview of The Application of Near-field Scanning Optical Microscope (NSOM) technique in Raman Spectroscopy 基科99 邓耿 2009010847 1 近场扫描光学显微技术的发展历史 1928 年，E. H. Synge 在A. Einstein 的鼓励下，在《Phil. Mag.》上提出 利用小于波长的光学孔径作为光源，并在探测距离也小于光波长的条件下 通过扫描样品光点强度，来实现超衍射极限分辨。图1 就是他设想的超高 分辨显微装置图。Synge 准确地提出了当时制造近场显微镜的困难。包括如 何制造这样小的孔，如何获得足够强的光强度，标本如何定位在纳米级的 范围内，标本与小孔如何保持这样小的距离等。这种建议在当时的技术能 力条件下是不可接受的。1972 年，E. AAsh 和G. Nichofs 采用3 cm 微波利 用近场成像原理在实验中实现了超衍射分辨，从原理上实现了近场成像的 过程。然而由于技术的限制，这种新思想直到1981 年STM 的发明后才得 以实现。 1984 年IBM 公司的Zurich 实验室和一个在Cornell 大学工作的独立小 图1 E. H. Synge 的设想 组开始了近代NSOM 的开发工作。IBM 小组采用在石英晶体上镀金属的方法在尖端制作小孔的探针，并命 名为扫描近场光学显微术（SNOM ）。Cornell 小组则采用电子束在硅或金属上制作一个小于50 nm 的小孔。 IBM 小组要求最高的分辨率达25 nm ，或488 nm 幅射波的1/20，以利用它测量精密金属线光栅之类的标本。 虽然在可见光范围内无衍射成像的实现证实了近场光孔扫描技术的可行性，但是在1992 年之前该技术仍未 作为一种仪器在科学研究上得到广泛应用。一直到剪切力反馈伺服系统开发成功和单模光纤作为NSOM 的 探针后，才由在ATT Bell 实验室工作的Eric Betzig 在近场技术上加以应用。 2 近场光学（Near-field Optics）的基本原理 传统光学仪器的分辨率具有较大的限制，其主要原因是由于衍射效 应造成的干扰使得满足瑞利判据条件的极限限制在波长量级，这是一般 远场光谱仪器都具有的缺点。一般理论分辨极限为 ，约300 nm 左右。 同时，理论和实验都已证实，在传播过程中远场光谱将发生变化，即使 是自由空间也是如此。 所谓近场光谱则是指在 波长量级的光程范围内进行激 发或摄取光信息、进而形成光 谱的技术。其分辨率可以达到 波长的十分之一到百分之一的 图2 近场光谱与远场光谱的比较 等幅线 范围。同时由于生物、材料、纳 米科学等领域对表面精细结构信息的要求，近场光谱可以克服远场 光谱的传播变化，从而更加准确真实的反映待分析样品的性状。它 等