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超声频率与被检件晶粒度 —— 探伤灵敏度探讨 王开松（UT－Ⅲ） 近年来市场上等效采用各类探伤标准进行各种灵敏度探伤的介绍很多，但是 极少对探伤表面光洁度，耦合剂等等有所规定，而对被检件内部材质晶粒度应具 备几级方可完成探伤灵敏度的要求更没有明确规定。有人认为不规定的理由是金 相取样表示的晶粒度大部为一般被检件的浅表层，而探伤出现的内部晶粒粗大， 处于内层或芯部，很难对应，又无法金相试样验证。二是被检件在探伤时可能不 是产品的最终检查，而最终热处理后组织还可细化，尚可复探（除奥氏体钢之外）。 可就是标准中这么一个漏洞，造成了一些不重视产品质量的锻件厂为省生产 成本、图快，还有订货方面的利益（锻件订货分探伤质保与不质保二种价格，不 质保者只要锻件超声探伤没有发现“ 白点裂缝”即可，其余不管），锻造时往往缺锻 比、缩火次，锻后热处理往往以终锻温度下的空冷代替正火，在这种状况下就很 难保证细晶化，保证内部危害性缺陷的检出。 另外，目前市面上对超声检测频率的选用及被检件晶粒度在检验标准中体现 得很模糊，例如只提1~5MHZ 的探头频率要求，太宽泛；又如探测灵敏度有明确 规定（比如电站转子有要求能发现Φ2 、Φ1.6，甚至Φ1.2mm 的内在缺陷），而相 应被检件的晶粒均匀度却没有明确规定，这样一来如果遇上局部粗晶的被检件， 要充分发现规定的缺陷，以及准确判定缺陷就很困难。 我们知道，超声频率的选择与必须发现的缺陷大小有关，一般以能发现 1/2 波长缺陷界限为宜。如用0.5MHZ 频率时能发现Φ6mm 的缺陷时，1MHZ 时就 能发现Φ3mm 缺陷，2MHZ 时能发现Φ1.6mm 缺陷，4MHZ 时能发现Φ0.8mm 缺陷……等等。然而我们又知道，能发现不等于一定发现，它存在一个条件，那 就是被检件晶粒度。 那么它们各自对被检件晶粒度要求为怎样呢？我们曾制作了不同晶粒度的大 于 3 倍近场距离的远伤区厚度试样，即 0~1 级（平均晶粒直径为 0.35mm ~0.25mm ），2 级（平均晶粒度直径为 0.177mm ），3~5 级（平均晶粒直径为 0.125mm～0.062mm ），6～7 级（平均晶粒度直径为 0.044mm～0.031mm ），8 级（平均晶粒度直径为 0.022mm ）。分别对0.5MHZ 、1MHZ、2MHZ 、4MHZ 、 1.25MHZ、2.5MHZ 、5MHZ 等 7 种频率进行了不检波超声底面反射波一次反射 B1 ，二次反射B2 （相当于常规灵敏度下的测试结果记录），如图所示。 通过长期生产检验验证，我们可以观察到晶粒度与选用频率有直接关系。0～ 1 级晶粒度只宜选用0.5MHZ 频率，如使用1MHZ 频率时，会产生一些探测清晰 度的影响。2 级晶粒度时宜选用 1MHZ～1.25MHZ 探测，使用2～2.5MHZ 频率 时就会有明显影响。3～5 级晶粒度时宜选用2～2.5MHZ 频率探测，用4～5MHZ 时就有明显影响。6～8 级晶粒度时方可选用4 ～5MHZ 高频率进行探测。这就是 说，当产品探测灵敏度要求高时，就必须使用高频率探头，而使用高频探头，又 必须要求被检件晶粒度很细，才能达到检测目的。 试验中还有晶粒粗大时的大量草状波反射，影响正常探伤，以及如图、4MHZ 、 5MHZ 、0～1 级晶粒度上提高大增益后的虚线反射波位移、反射波长变长了的频 谱红移现象，严重影响正常灵敏度探伤。 以上试验得出如下几方面意见： 一、 目前要求Φ2mm 作为探伤灵敏度要求的压力容器用钢锻件在锻后正回 火过的毛坯件上探测时，使用2～2.5MHZ 频率探测时，超声衰减系数不允 许大于0.006~0.008dB/mm （厚壁件取小值）,而最终热处理并精加工后探 伤时≤0.004dB/mm 。电站锻件不得大于0.002dB/mm 。 二、 今后的超声检测标准应明确一项被检件晶粒度要求的规定：探伤灵敏度 高的被检件内部晶粒度级别要求应相应提高（比如某奥氏体钢要求 2MHZ 频率探伤时应规定该件内部晶粒度不得低于4 级）。 三、 对于粗晶粒奥氏体钢（锻、铸、焊接件）如何选择探测最佳条件，必须