原子力显微镜在聚合物膜研究中的应用.pdfVIP

第26 卷 第3 期 核 技 术 Vol.26, No.3 2003 年3 月 NUCLEAR TECHNIQUES March 2003 原子力显微镜在聚合物膜研究中的应用 樊文玲 陆晓峰 （中国科学院上海原子核研究所上海 201800 ） 摘要 原子力显微镜(AFM) 已被用来研究膜的孔径和孔径分布、膜孔的结构、表面粗糙度、表面接点结构、膜 的表面整体形态、膜污染机制和膜材料的选择等7 个方面。原子力显微镜作为一种崭新的、有效的物理观测工 具，在聚合物膜研究方面仍具有应用潜力。 关键词 原子力显微镜, 聚合物膜 中图分类号 TQ 028.8 膜过滤是一种高效的分离技术,它被广泛地用 非接触模式(Non-contacting mode)中，探针与样品之 于环保（处理放射废水和印钞水等）、生物、电子等 间的距离较大，通常为5—10nm，作用力为引力(范 -12 许多领域,且具有较好的应用前景。在长期的膜应用 徳瓦耳斯力) ，强度为10 N 。这种模式特别适合研 过程中，人们发现膜结构与膜性能存在着密切的联 究软的物质表面（聚合物膜等），但在室温下操作起 系，因此, 对膜结构的研究工作具有非常重要的意 来较困难，原因是在样品表面积聚了薄薄的一层水， 义。 干扰了探针与样品表面间的作用，因此要特别注意 1986 年，Binning、Quate 和Gerber 发明了原子 保持操作环境干燥。在轻敲模式(Tapping mode)中， 力显微镜(AFM) 。1988 年，Albrecht 等人首次用它 探针快速地振动，样品与探针之间保持短暂的、间 观测聚合物膜的表面，从此 AFM 为聚合物膜的研 歇的接触，防止了无弹性表面的变形，大大降低了 究敞开了一扇崭新的大门。AFM 的工作原理是使用 侧面力的产生，这种模式比较适宜于聚合物膜和生 一个固定在微制造悬梁臂末端的尖锐的探针从坐标 物膜的研究。Yoshiaki Hayashi[1] 在水中使用的交替 轴的X 、Y、Z 方向来扫描样品。探针与样品表面作 接触模式(Alternative contacting mode ，AC) ，与轻敲 用时，悬梁臂在三个方向上出现偏斜，压电转换器 模式类似，适合在水中观测聚合物膜表面。此外 [2] 通过反射的激光测量偏斜的程度，得到它的表面图 W.Richard Bowen 等 研究出一种双电层模式，这 象。图上亮点表示膜表面的最高点，暗点表示膜表 种模式很少使用, 但对膜的研究非常有用。 面的凹陷或膜孔，这样膜的表面整体形态在图象上 一目了然。在 AFM 聚合物膜研究中所表现的优点 1 孔径和孔径分布研究 是：分辨率能达到原子分辨水平；样品不需复杂的 [3] 在空气中，Bowen 等 采用非接触模式观测了 预处理，避免了由此所带来的测量误差；对操作环 Cyclopore 微滤膜和 Anopore 微滤膜的表面孔，给 境的要求较宽松，在空气或液体(水、氯化钠溶液等) 出了孔结构特别是孔径分布的定量信息,并得到单 中观测都可以；操作力很小，能成功地观测软的物 个孔的图象（如图1）。 质表面。上述这些优点使 AFM